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透射電鏡，透射電子顯微鏡法有什么用

來源：整理時間：2024-09-06 04:28:57 編輯：智能門戶手機版

1，透射電子顯微鏡法有什么用

透射電鏡是一種高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡，是材料科學(xué)研究的重要手段，能提供極微細材料的組織結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分等方面的信息。透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～幾十萬倍。

透射電子顯微鏡法有什么用

2，名詞解釋TEM

透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，用于觀察超微結(jié)構(gòu)，即小于0.2μm、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu)，又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)”。

問題是什么

名詞解釋TEM

3，在觀察材料結(jié)構(gòu)時掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別是什么

通俗的說掃描電鏡是相當與對物體的照相得到的是表面的只是表面的立體三維的圖象因為掃描的原理是“感知”那些物提被電子束攻擊后發(fā)出的此級電子而透射電竟就相當于普通顯微鏡只是用波長更短的電子束替代了會發(fā)生衍射的可見光從而實現(xiàn)了顯微是二維的圖象會看到表面的圖象的同時也看到內(nèi)層物質(zhì) 就想我們拍的X光片似的內(nèi)臟骨骼什么的都重疊著顯現(xiàn)出來總結(jié)就是透射雖然能看見內(nèi)部但是不立體掃描立體但是不能看見內(nèi)部只局限與表面

這個需要拍透射電鏡，觀察細胞核和凋亡小體。

在觀察材料結(jié)構(gòu)時掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別是什么

4，透射電鏡TEM

透射電鏡是研究材料的重要儀器之一，在納米技術(shù)的基礎(chǔ)研究及開發(fā)應(yīng)用中也不例外。但是用透射電鏡研究材料微觀結(jié)構(gòu)時，試樣必須是透射電鏡電子束可以穿透的納米厚度的薄膜。單體的納米顆?；蚣{米纖維一般是透射電鏡電子束可以直接穿透的。研究者通常把試樣直接放在微柵上進行透射電鏡觀察。但是由于納米顆?；蚣{米纖維容易團聚，因此，用這種方法常常得不到理想的結(jié)果，有些研究內(nèi)容也難以實施。比如∶納米顆粒的表面改性的研究，納米纖維的橫切面研究都比較困難，研究界面問題則有更大的難度。因此，納米材料的透射電鏡研究，其樣品制備問題是一個值得探討的重要課題。對此，方克明教授進行了研究，探索了一種比較適用的制樣方法。該方法可以從納米顆粒或微米顆粒中直接切取可以進行透射電鏡研究的薄膜，對進行納米纖維橫切面觀察或納米界面觀察的制樣也有很高的效率。這一技術(shù)的特點是從納米或微米尺度的試樣中直接切取可供透射電鏡或高分辨電鏡研究的薄膜。試樣可以為簡單顆粒或表面改性后的包覆顆粒，對于纖維狀試樣，既可以切取橫切面薄膜也可以切取縱切面薄膜。對含有界面的試樣或納米多層膜，該技術(shù)可以制備研究界面結(jié)構(gòu)的透射電鏡試樣。技術(shù)的另一重要特點是不損傷試樣的原始組織。制膜過程中不使用高溫，不接觸酸堿，必要時也可以不接觸水或水溶液。

5，透射電子顯微鏡的成像原理是什么

透射電鏡，通常采用熱陰極電子槍來獲得電子束作為照明源。熱陰極發(fā)射的電子，在陽極加速電壓的作用下，高速地穿過陽極孔，然后被聚光鏡會聚成具有一定直徑的束斑照到樣品上。這種具有一定能量的電子束與樣品發(fā)生作用，產(chǎn)生反映樣品微區(qū)的厚度、平均原子序數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)或位向差別的多種信息。透過樣品的電子束強度，其取決于這些信息，經(jīng)過物鏡聚焦放大在其平面上形成一幅反映這些信息的透射電子像，經(jīng)過中間鏡和投影鏡進一步放大，在熒光屏上得到三級放大的最終電子圖像，還可將其記錄在電子感光板或膠卷上。

透射電子顯微鏡(transmission electron microscopy，tem)，簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，適于觀察超微結(jié)構(gòu)。透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。

6，什么是透射電子顯微鏡

透射電子顯微鏡(Transmission electron microscopy，TEM)，簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，適于觀察超微結(jié)構(gòu)。透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。

在光學(xué)顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0.2nm。

眼睛是人類認識客觀世界的第一架光學(xué)儀器”。但它的能力卻是有限的。在正常明視距離(約明肥)內(nèi)，能夠被察覺的物體，其尺寸不得小于o．075mnl。如果兩個細小物體之間的距離小于o．1ulm時，眼睛就無法把它們分開J因此通常把o．1mm作為眼睛的最佳分辨本領(lǐng)。隨著人類對客觀世界認識的深入迫切需要找到一種新的手戰(zhàn)以彌補人眼視力的式足，進一步探測微觀世界的奧秘。十七世紀初J光學(xué)顯微鏡的出現(xiàn)，使得可以把細小物體放大一千估以j2分辨本領(lǐng)比人服提高五百借以上。過去許多沒有被人們察覺的物質(zhì)結(jié)構(gòu)的細節(jié)，在光學(xué)顯微鏡的幫助下，清晰地展現(xiàn)在人們的眼前。在人類認識能力發(fā)展史1J這無疑是一次巨大的突破。但危客觀物質(zhì)世界所包括的內(nèi)容是如此豐富多米而人類認識世界、改造世界的任務(wù)J又是無窮無盡的。這就促使人們進一步向認識的深度和廣度進軍。例機揭示構(gòu)成物質(zhì)的單元——原子及其更深一層的結(jié)構(gòu)，是人們多年來的宿愿。而要達到這一目的，就遠非光學(xué)顯微鏡所能勝任。1932—1933年問，在德同實驗物理學(xué)家魯什卡(E．R佃ka)等人的努力T6終于制成了以電子射線為照明源的電子顯微鏡。在不到—t十年時間里，電子顯微鏡的性能，己發(fā)展到今天這樣的水平：放大率接近百萬低分辨本領(lǐng)也接近理淪值，達到了原子尺度水平。 Yada和Hibll9肋年獲得了1)d的(O01)品格象，其面間距為o．97A“。今無電子顯微鏡已成為研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的強有力手段之一。