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電子探針，掃描電鏡與電子探針的區(qū)別

來源：整理時間：2024-08-19 18:52:51 編輯：智能門戶手機(jī)版

本文目錄一覽

1，掃描電鏡與電子探針的區(qū)別
2，電子探針分析的應(yīng)用領(lǐng)域
3，用電子探針分析巖石的化學(xué)成分含量簡要操作步驟
4，電子探針分析的介紹
5，電子探針X射線微區(qū)分析的電子探針工作原理
6，電子探針的結(jié)構(gòu)特點

1，掃描電鏡與電子探針的區(qū)別

掃描電鏡和電子探針的根本區(qū)別在于電子束流:電子探針的束流(指打在樣品表面的電流)要比掃描電鏡大幾個數(shù)量級. 由此造成:電子探針的空間分辨率差,二次電子和背散射電子分辨率差. 如果要求不高, 電子探針可以當(dāng)作掃描來用. 個人建議不要用來發(fā)好文章啊!其圖像質(zhì)量會造成較大麻煩.

掃描電鏡與電子探針的區(qū)別

2，電子探針分析的應(yīng)用領(lǐng)域

電子探針的最早應(yīng)用領(lǐng)域是金屬學(xué)。對合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析，直觀而方便，還能較準(zhǔn)確地測定元素的擴(kuò)散和偏析情況。此外，它還可用于研究金屬材料的氧化和腐蝕問題，測定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等，是機(jī)械構(gòu)件失效分析、生產(chǎn)工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針分析照片。

電子探針分析的應(yīng)用領(lǐng)域

3，用電子探針分析巖石的化學(xué)成分含量簡要操作步驟

正目前,電子探針分析儀用于分析礦物得到廣泛的應(yīng)用。但對巖石和造巖礦物的定量分析與金屬礦物分析相比,有它特殊的困難。主要表現(xiàn)在:(1)巖石分析,是要求得到巖石的平均化學(xué)成分,不是某一微區(qū)的成分。電子探針分析要使有限的分析區(qū)域的化學(xué)成分能代表整個取樣地質(zhì)體,就需要解決樣品制備問題,還要解決測量方法問題;(2)巖石和造巖礦物均為非導(dǎo)電性物質(zhì),因此,分析前樣品必須經(jīng)

用電子探針分析巖石的化學(xué)成分含量簡要操作步驟

4，電子探針分析的介紹

1、能進(jìn)行微區(qū)分析?？煞治鰯?shù)個μm^3內(nèi)元素的成分。2、能進(jìn)行現(xiàn)場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區(qū)域進(jìn)行分析。把電子顯微鏡和電子探針結(jié)合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯(lián)系起來。3、分析范圍廣。z>4.其中，波譜：be~u,能譜：na~u。

電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發(fā)出試樣表面組成元素的特征X射線，對微區(qū)成分進(jìn)行定性或定量分析的一種材料物理試驗。

5，電子探針X射線微區(qū)分析的電子探針工作原理

電子探針（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。其原理是：用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征X射線，分析特征X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析特征X射線的強(qiáng)度可知元素的含量。其鏡筒部分構(gòu)造和SEM相同，檢測部分使用X射線譜儀，用來檢測X射線的特征波長（波譜儀）和特征能量（能譜儀），以此對微區(qū)進(jìn)行化學(xué)成分分析。 X射線譜儀是電子探針的信號檢測系統(tǒng)，分為：能量分散譜儀（EDS），簡稱能譜儀，用來測定X射線特征能量。波長分散譜儀（WDS），簡稱波譜儀，用來測定特征X射線波長。WDS組成：波譜儀主要由分光晶體和X射線檢測系統(tǒng)組成。原理：根據(jù)布拉格定律，從試樣中發(fā)出的特征X射線，經(jīng)過一定晶面間距的晶體分光，波長不同的特征X射線將有不同的衍射角。通過連續(xù)地改變q，就可以在與X射線入射方向呈2 q的位置上測到不同波長的特征X射線信號。根據(jù)莫塞萊定律可確定被測物質(zhì)所含有的元素。為了提高接收X射線強(qiáng)度，分光晶體通常使用彎曲晶體。

6，電子探針的結(jié)構(gòu)特點

sem說俗了就是用高速的電子打擊標(biāo)本捕獲打回來的電子然后電腦分析得到的圖象就是物體表面的照片和普通黑白照片沒區(qū)別只不過是很小很小的物體在納米級別上的迷你照片~電子探針就不一樣了全名為電子探針x射線顯微分析儀又名微區(qū)x射線譜分析儀聽著聽深奧實際上就是把高速的電子打在物體上這點和sem一樣但是它捕獲的不是電子它要的是物體受到電子攻擊產(chǎn)生的x線``（如果你大學(xué)物理學(xué)的好沒掛科的話你應(yīng)該記得一個叫做特征x線它要的就是這個玩意）因為這個x線含有標(biāo)本的化學(xué)成分信息``所以它長用來分析物體里有什么這樣我們就知道標(biāo)本里面有多少氫多少氧等等`總結(jié)就是：都把高速的電子打到了標(biāo)本上 sem捕獲了反彈回來的電子從而知道了物體表面長什么樣子電子探針捕獲了物體激發(fā)出來的x光從而知道了物體里面有什么成分

電子探針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm的細(xì)焦電子束，在樣品表層微區(qū)內(nèi)激發(fā)元素的特征X射線，根據(jù)特征X射線的波長和強(qiáng)度，進(jìn)行微區(qū)化學(xué)成分定性或定量分析。電子探針的光學(xué)系統(tǒng)、真空系統(tǒng)等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區(qū)成分分析兩方面的功能。電子探針的構(gòu)成除了與掃描電鏡結(jié)構(gòu)相似的主機(jī)系統(tǒng)以外，還主要包括分光系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)等部分。電子探針主要由電子光學(xué)系統(tǒng)（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統(tǒng)組成。電子探針和掃描電鏡在電子光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)造基本相同，它們常常組合成單一的儀器。