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1，AFm 是什么意思

原子力顯微鏡（ AFM ）的原理是利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用力來(lái)作為反饋信號(hào)，維持針尖——樣品間作用力恒定，同時(shí)針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面的高低起伏。

AFm 是什么意思

2，尺寸的AFM測(cè)量是什么意思

AFM是Atomic Force Microscope的縮寫，即原子力顯微鏡。AFM利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測(cè)樣品原子之間的作用力，從而達(dá)到檢測(cè)的目的，具有原子級(jí)的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導(dǎo)體，也可以觀察非導(dǎo)體，從而彌補(bǔ)了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發(fā)明的，其目的是為了使非導(dǎo)體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測(cè)方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）最大的差別在于并非利用電子隧穿效應(yīng)，而是檢測(cè)原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應(yīng)等來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性。關(guān)于詳細(xì)的AFM測(cè)量原理及其優(yōu)缺點(diǎn)，請(qǐng)題主參考百度百科及其它網(wǎng)絡(luò)資源。

尺寸的AFM測(cè)量是什么意思

3，AFM是什么材料

反鐵磁性(AFM)材料

afm34是芳綸纖維。芳綸纖維一般指芳綸。芳綸(nomex是芳綸一種，是間對(duì)苯二甲酰間苯二胺)，是一種新型高科技合成纖維，具有超高強(qiáng)度、高模量和耐高溫、耐酸耐堿、重量輕、絕緣、抗老化、生命周期長(zhǎng)等優(yōu)良性能，廣泛應(yīng)用于復(fù)合材料、防彈制品、建材、特種防護(hù)服裝、電子設(shè)備等領(lǐng)域。芳綸全稱為"聚對(duì)苯二甲酰對(duì)苯二胺",英文為aramid fiber，是一種新型高科技合成纖維，具有超高強(qiáng)度、高模量和耐高溫、耐酸耐堿、重量輕等優(yōu)良性能,其強(qiáng)度是鋼絲的 5～6倍，模量為鋼絲或玻璃纖維的2～3倍，韌性是鋼絲的2倍，而重量?jī)H為鋼絲的1/5左右，在560度的溫度下，不分解，不融化。它具有良好的絕緣性和抗老化性能，具有很長(zhǎng)的生命周期。芳綸的發(fā)現(xiàn)，被認(rèn)為是材料界一個(gè)非常重要的歷史進(jìn)程。

AFM是什么材料

4，AFM什么意思

Air Force Manual 〈美〉《空軍手冊(cè)》 1. 高級(jí)調(diào)頻 A-fader 音頻衰減...AFM adance frequency modulation 高級(jí)調(diào)頻...AFS acoustic feedback speaker 聲反饋揚(yáng)聲器 2. 原子力顯微鏡 AFI Atrial Filling Index 心房充盈指數(shù)...AFM Atomic Force Microscope 原子力顯微鏡...AFP Adiabatic Fast Passage 絕熱快速通道 3. 耐摩金屬 afloat浮...AFM耐摩金屬...AFMag method聲頻磁法 4. 利用原子力顯微鏡報(bào)道了以聚酰亞胺(polyimide)作為絕緣層,并五苯作為活動(dòng)層的一種全有機(jī)場(chǎng)效應(yīng)晶體管。利用原子力顯微鏡(AFM)分析了聚酰亞胺薄膜及其表面并五苯薄膜的形貌;采用頂電極接觸結(jié)構(gòu),測(cè)量出其場(chǎng)效應(yīng)晶體管的輸出特性曲線,并得出其場(chǎng)效應(yīng)遷移率為0.079m2/(V.s),開關(guān)電流比約為104。

5，什么是AFM

明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術(shù)，它的許多元件和STM是共同的，如用於三維掃描的電壓陶瓷系統(tǒng)以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個(gè)對(duì)微弱作用力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測(cè)原子間的微小作用力(Vander Walls Force)代替了STM 的微小穿遂電流。因?yàn)檫@樣所以AFM 不在像STM 侷限於樣品必須為導(dǎo)體才行，AFM 適用於導(dǎo)體和非導(dǎo)體，它的應(yīng)用範(fàn)圍比STM 廣泛的多，因此AFM 為目前最被廣泛應(yīng)用在工業(yè)界的掃描探針式顯微術(shù)。但值得注意的是AFM 的解析度並沒(méi)有STM 來(lái)的好！AFM的探針,一般是利用半導(dǎo)體工業(yè)的平面製程方法一體成行的。為了使探針有原子級(jí)的解析度，探針乃呈角錐形，使頂端只具有一顆或數(shù)顆穩(wěn)定原子；為使探針具高靈敏的原子力感應(yīng)度，角錐形探針底部乃連結(jié)於一槓桿之前緣，此槓桿彎曲程度將反映出原子力的大小。為測(cè)量彎曲度的大小，常用的方法是打一雷射光於懸臂上，而反射回來(lái)的雷射光則利用一能區(qū)分光點(diǎn)位置的感光二極體來(lái)接收，如此便能得到懸臂受原子力彎曲的程度，進(jìn)而得到原子力圖像(見(jiàn)圖十一)。圖十一. 為AFM 的針尖探測(cè)示意圖。AFM工藝由美國(guó)與薩諸塞州Dynetics公司開發(fā)的Dynaflow磨料流加工工藝(AFM)是一種強(qiáng)迫含磨料的介質(zhì)在工件表面或孔中往復(fù)運(yùn)動(dòng)的金屬精加工工藝, 它具有廣泛的應(yīng)用前景。年前, AFM當(dāng)最先出現(xiàn)時(shí), 它主要用于清除金屬件中難于到達(dá)的內(nèi)通道及相交部位的毛刺。它特別適用于加工難加工合金材料制成的結(jié)構(gòu)復(fù)雜的航空元件。近年來(lái), 它已被用于精加工流體動(dòng)力元件中表面粗糙度要求達(dá)0.127μm的不能接近的內(nèi)表面。AFM的基本原理：介質(zhì)速度最大時(shí), 磨光的能力也最大。這里, 夾具的結(jié)構(gòu)起著重要作用, 它決定著介質(zhì)速度在何處最大。夾具用于使工件定位和建立介質(zhì)流動(dòng)軌跡, 是精加工所選擇部位而不觸及相鄰部位的關(guān)鍵所在。AFM的分類﹕(1) 接觸式﹕利用探針和待測(cè)物表面之原子力交互作用(一定要接觸)，此作用力(原子間的排斥力)很小，但由于接觸面積很小，因此過(guò)大的作用力仍會(huì)損壞樣品，尤其對(duì)軟性材質(zhì)，不過(guò)較大的作用力可得較佳分辨率，所以選擇較適當(dāng)?shù)淖饔昧Ρ闶值闹匾?。由于排斥力?duì)距離非常敏感，所以較易得到原子分辨率。(2) 非接觸式﹕為了解決接觸式之AFM 可能破壞樣品的缺點(diǎn)，便有非接觸式之AFM 被發(fā)展出來(lái)，這是利用原子間的長(zhǎng)距離吸引力來(lái)運(yùn)作，由于探針和樣品沒(méi)有接觸，因此樣品沒(méi)有被破壞的問(wèn)題，不過(guò)此力對(duì)距離的變化非常小，所以必須使用調(diào)變技術(shù)來(lái)增加訊號(hào)對(duì)噪聲比。在空氣中由于樣品表面水模的影響，其分辨率一般只有50nm，而在超高真空中可得原子分辨率。(3) 輕敲式﹕將非接觸式AFM 改良，將探針和樣品表面距離拉近，增大振福，使探針再振蕩至波谷時(shí)接觸樣品由于樣品的表面高低起伏，使的振幅改變，再利用接觸式的回饋控制方式，便能取得高度影像。分辨率界于接觸式和非接觸式之間，破壞樣品之機(jī)率大為降低，且不受橫向力的干擾。不過(guò)對(duì)很硬的樣品而言，針尖仍可能受損。

原子力顯微鏡（afm）的原理是利用針尖與樣品表面原子間的微弱作用力來(lái)作為反饋信號(hào)，維持針尖——樣品間作用力恒定，同時(shí)針尖在樣品表面掃描，從而得知樣品表面的高低起伏。

6，AFM的介紹

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱；現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中，成為納米科學(xué)研究的基本工具。

原子力顯微鏡(atomic force microscope, afm)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，stm（scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡）由ibm-zurich 的binnig and rohrer 發(fā)明。1982年，binnig首次觀察到原子分辨圖si(7x7)。1985年，binnig, gerber和quate開發(fā)成功了首臺(tái)afm（atomic force microscope, 原子力顯微鏡）。在表面科學(xué)、納米技術(shù)領(lǐng)域、生物電子等領(lǐng)域， spm（scanning probe microscopy）逐漸發(fā)展成為重要的、多功能材的材料表征工具。stm 要求樣品表面導(dǎo)電，而afm可以測(cè)試絕緣體的表面形貌和性能。因?yàn)閟tm的基本原理是通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的隧道電流大小來(lái)探測(cè)表面形貌，而afm是測(cè)量探針與樣品表面的相互作用力。afm由四個(gè)部分組成：機(jī)械運(yùn)動(dòng)部分、懸臂偏轉(zhuǎn)信號(hào)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)、控制信號(hào)反饋系統(tǒng)，成像和信息處理軟件系統(tǒng)。探針與樣品之間的相互作用力使微懸臂向上或向下偏轉(zhuǎn)，利用激光將光照射在懸臂的末端，反射光的位置改變就用來(lái)測(cè)器此懸臂的偏移量，這種檢測(cè)方法最先由meyer 和amer提出。機(jī)械部分的運(yùn)動(dòng)（探針上、下以及橫向掃描運(yùn)動(dòng)）是有精密的壓電陶瓷控制。激光反射探測(cè)采用psd。反饋和成像系統(tǒng)控制探針和樣品表面間距以及最后處理實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。原子力顯微鏡afm操作模式隨著afm技術(shù)的發(fā)展，各種新應(yīng)用不斷涌現(xiàn)。具體包括如下技術(shù):(1) 接觸模式 (contact mode) 最早的模式，探針和樣品直接接觸，探針容易磨損，因此要求探針較軟，即懸臂的彈性系數(shù)小，一般小于1n/m。(2) 輕敲模式（tapping mode）也叫dynamic force或者intermittant-contact。探針在外力驅(qū)動(dòng)下共振，探針部分振動(dòng)位置進(jìn)入力曲線的排斥區(qū)，因此探針間隙性的接觸樣品表面。探針要求很高的懸臂彈性系數(shù)來(lái)避免與樣品表面的微層水膜咬死。tapping mode對(duì)樣品作用力小，對(duì)軟樣品特別有利于提高分辨率。同時(shí)探針的壽命也較contact mode的稍長(zhǎng)。以上是最常用的afm模式，別的模式還有很多：如lateral force microscopy（橫向力顯微鏡，檢測(cè)樣品表面微區(qū)對(duì)探針橫向的摩擦力，可以獲得材料的力學(xué)性能），noncontact mode force（非接觸模式顯微鏡，與tapping mode基本相同，區(qū)別是非接觸模式探針工作在力曲線的吸引區(qū)），force modulation （力調(diào)制顯微鏡，探針對(duì)檢測(cè)樣品表面微區(qū)有很大的力，可以獲得材料微區(qū)的彈性系數(shù)等力學(xué)性能），cfm chemical force microscopyefm electric force microscopykfm kelvin force microscopymfm magnetic force microscopysthm scanning thermal microscopyscm scanning capacitance microscopescpm scanning chemical potential microscopesecm scanning electrochemical microscopesicm scanning ion conductance microscopeskpm scanning kelvin probe microscopesthm scanning thermal microscopestos scanning tunneling optical spectrometer各種模式和應(yīng)用要求性能各異的探針，而探針的性能指標(biāo)是決定顯微鏡分辨率的最關(guān)鍵的因素。二. afm探針?lè)诸惣案魈结槂?yōu)缺點(diǎn)afm探針基本都是由mems技術(shù)加工 si 或者 si3n4來(lái)制備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個(gè)一般100~500μm長(zhǎng)和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長(zhǎng)、10μm寬、數(shù)微米厚。利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發(fā)了各種不同應(yīng)用領(lǐng)域的顯微鏡，如afm（范德法力），靜電力顯微鏡efm（靜電力）磁力顯微鏡mfm（靜磁力）側(cè)向力顯微鏡lfm（探針側(cè)向偏轉(zhuǎn)力）等，因此有對(duì)應(yīng)不同種類顯微鏡的相應(yīng)探針。原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種：（1）、非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：最常用的產(chǎn)品，分辨率高，使用壽命一般。使用過(guò)程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降。主要應(yīng)用與表面形貌觀察。（2）、導(dǎo)電探針：通過(guò)對(duì)普通探針鍍10-50納米厚的pt（以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬，如cr，ti，pt和ir等）得到。導(dǎo)電探針應(yīng)用于efm，kfm，scm等。導(dǎo)電探針?lè)直媛时萾apping和contact模式的探針差，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落，導(dǎo)電性難以長(zhǎng)期保持。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖，全金屬絲針尖，這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點(diǎn)。（3）、磁性探針：應(yīng)用于mfm，通過(guò)在普通tapping和contact模式的探針上鍍co、fe等鐵磁性層制備，分辨率比普通探針差，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落。（4）、大長(zhǎng)徑比探針：大長(zhǎng)徑比針尖是專為測(cè)量深的溝槽以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。特點(diǎn)：不太常用的產(chǎn)品，分辨率很高，使用壽命一般。技術(shù)參數(shù)：針尖高度> 9μm；長(zhǎng)徑比5:1；針尖半徑< 10 nm。（5）、類金剛石碳afm探針/全金剛石探針：一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜，另外一種是全金剛石材料制備（價(jià)格很高）。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。還有生物探針（分子功能化），力調(diào)制探針，壓痕儀探針