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1，四大干涉儀都有啥邁克爾遜菲索FP
2，干涉儀的應用
3，Sagnac干涉儀的原理
4，光學干涉儀
5，什么叫干涉儀干涉儀的原理和構造
6，光纖干涉儀的原理是什么

1，四大干涉儀都有啥邁克爾遜菲索FP

雙光束干涉儀：邁克爾遜（Michelson）干涉儀，馬赫-曾德（Mach-Zehnde）干涉儀，塞納克（Sagnac）干涉儀，斐索干涉儀。法布里-珀羅(Fabry-Perot)干涉儀屬于多光束干涉儀。

四大干涉儀都有啥邁克爾遜菲索FP

2，干涉儀的應用

干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方面：用作高分辨率光譜儀。法布里-珀羅干涉儀等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉極大，因而有極高的光譜分辨率，常用作光譜的精細結構和超精細結構分析。歷史上的作用。19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一系列實驗來驗證以太的存在并探求其屬性。以干涉原理為基礎的實驗最為精確，其中最有名的是菲佐實驗和邁克耳孫-莫雷實驗。1851年，A.H.L.菲佐用特別設計的干涉儀做了關于運動介質(zhì)中的光速的實驗，以驗明運動介質(zhì)是否曳引以太。1887年，A.A.邁克耳孫和E.W.莫雷合作利用邁克耳孫干涉儀試圖檢測地球相對絕對靜止的以太的運動。對以太的研究為A.愛因斯坦的狹義相對論提供了佐證。

干涉儀的應用

3，Sagnac干涉儀的原理

薩格納克效應概述英文名稱： Sagnac Effect 1911年薩格納克發(fā)明了一種可以旋轉(zhuǎn)的環(huán)形干涉儀。將同一光源發(fā)出的一束光分解為兩束，讓它們在同一個環(huán)路內(nèi)沿相反方向循行一周后會合，然后在屏幕上產(chǎn)生干涉。這就是薩格納克效應。薩格納克效應中條紋移動數(shù)與干涉儀的角速度和環(huán)路所圍面積之積成正比。薩格納克效應已經(jīng)得到廣泛的應用，由薩格納克效應研制出的光纖陀螺已成功地用于航空、航天等領域，是近20年發(fā)展較快的一種陀螺儀。定義1：這一在慣性空間中,由光敏感轉(zhuǎn)動的效應稱為SAGNAC效應.光纖陀螺工作原理框圖如圖1所示.由光源發(fā)出的光,經(jīng)藕合器傳輸?shù)結一波導調(diào)制器.Y一波導調(diào)制器將其輸入光分成順時針和逆時針傳輸?shù)膬墒?進人保偏光纖環(huán)圈,以實現(xiàn)SAGNAC效應定義2：這種現(xiàn)象稱為Sagnac效應,光纖陀螺儀實質(zhì)上就是一種Sagnac干涉儀.對于光纖陀螺儀的性能測試主要涉及以下幾個技術參數(shù):標度因數(shù)K(scalefactor)陀螺儀輸出量與輸入角速率的比值

Sagnac干涉儀的原理

4，光學干涉儀

利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長（～10-7米），所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的。根據(jù)光的干涉原理制成的一種儀器。將來自一個光源的兩個光束完全分并，各自經(jīng)過不同的光程，然后再經(jīng)過合并，可顯出干涉條紋。在光譜學中，應用精確的邁克爾遜干涉儀或法布里-珀羅干涉儀，可以準確而詳細地測定譜線的波長及其精細結構。干涉儀分雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類，前者有瑞利干涉儀、邁克耳孫干涉儀及其變型泰曼干涉儀、馬赫-秦特干涉儀等，后者有法布里-珀羅干涉儀等。干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方面： ①長度的精密測量。在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進行長度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。 ②折射率的測定。兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。 ③波長的測量。任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀羅干涉儀（標準具）曾被用來確定波長的初級標準（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標準，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。 ④檢驗光學元件的質(zhì)量。泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。 ⑤用作高分辨率光譜儀。法布里-珀羅干涉儀等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉極大，因而有極高的光譜分辨率，常用作光譜的精細結構和超精細結構分析。 ⑥歷史上的作用。19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一系列實驗來驗證以太的存在并探求其屬性。以干涉原理為基礎的實驗最為精確，其中最有名的是菲佐實驗和邁克耳孫-莫雷實驗。1851年，A.H.L.菲佐用特別設計的干涉儀做了關于運動介質(zhì)中的光速的實驗，以驗明運動介質(zhì)是否曳引以太。1887年，A.A.邁克耳孫和E.W.莫雷合作利用邁克耳孫干涉儀試圖檢測地球相對絕對靜止的以太的運動。對以太的研究為A.愛因斯坦的狹義相對論提供了佐證。

5，什么叫干涉儀干涉儀的原理和構造

http://202.192.168.54/dxwlsy/CLASSDA/JIAOAN/zonghe/maikeerxun.doc

干涉儀interferometer 利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長（～10-7米），所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的。干涉儀分雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類，前者有瑞利干涉儀、邁克耳孫干涉儀及其變型泰曼干涉儀、馬赫-秦特干涉儀等，后者有法布里-珀羅干涉儀等。干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方面： ①長度的精密測量。在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據(jù)條紋的移動數(shù)可進行長度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。 ②折射率的測定。兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。 ③波長的測量。任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀羅干涉儀（標準具）曾被用來確定波長的初級標準（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標準，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。 ④檢驗光學元件的質(zhì)量。泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。 ⑤用作高分辨率光譜儀。法布里-珀羅干涉儀等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉極大，因而有極高的光譜分辨率，常用作光譜的精細結構和超精細結構分析。 ⑥歷史上的作用。19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。人們做了一系列實驗來驗證以太的存在并探求其屬性。以干涉原理為基礎的實驗最為精確，其中最有名的是菲佐實驗和邁克耳孫-莫雷實驗。1851年，a.h.l.菲佐用特別設計的干涉儀做了關于運動介質(zhì)中的光速的實驗，以驗明運動介質(zhì)是否曳引以太。1887年，a.a.邁克耳孫和e.w.莫雷合作利用邁克耳孫干涉儀試圖檢測地球相對絕對靜止的以太的運動。對以太的研究為a.愛因斯坦的狹義相對論提供了佐證。

兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，光程差就改變一個波長（～10-7米），干涉條紋每移動一個條紋間距，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的

6，光纖干涉儀的原理是什么

（1）干涉儀及干涉條紋的解析評價光纖連接器端面的球面半徑和光纖高度，首先必須測量連接器端面的形狀。干涉儀具有測量精度高，速度快，成本低等優(yōu)點，是測量表面形狀的一個有效手段。圖3.是光纖連接器端面檢測干涉儀的系統(tǒng)概要。由光源射出的光線經(jīng)半透鏡反射到米羅干涉物鏡后，光線聚焦于被檢測光纖連接器的端面，經(jīng)端面反射后與米羅干涉物鏡的反射面反射的光線一同透過半透鏡，成像于CCD攝像頭。這時在CCD攝像頭上可以觀察到干涉條紋。CCD攝像頭測得的圖像經(jīng)圖像卡傳送到計算機進行解析處理。就可以得到我們所需要的測量結果。由計算機經(jīng)過控制卡及控制回路控制的PZT(壓電陶瓷組件)用于移動米羅干涉物鏡以產(chǎn)生位相移動。解析干涉條紋可以應用傅立葉變換法2，3，4,也可以應用位相移動法5，6。傅立葉變換法具有簡單，快速，低成本等優(yōu)點，但精度較低，一般用于簡易型測量儀。對于光纖連接器端面形狀的測量，一般采用解析精度較高的位相移動法。必須指出的是位相連接是一個比較復雜的過程。選擇不同的位相連接算法，計算速度和安定性將會不同。（2）載物臺的傾斜調(diào)整載物臺的傾斜調(diào)整是一項關鍵技術。如果載物臺的傾斜調(diào)整精度不高，將極大地影響球面頂點偏心，APC角度及定位鍵角度的測量精度。圖4為傾斜調(diào)整和球面頂點偏心測量精度的關系概要。如圖4（a）所示，當載物臺傾斜調(diào)整完整時，干涉儀光學系統(tǒng)的光軸將與被測定光纖連接器的插芯的中心軸平行。此時，旋轉(zhuǎn)被測定光纖連接器時，光纖連接器端面的球面頂點（環(huán)形干涉條紋的中心如A點或B點）將繞光纖的中心O點旋轉(zhuǎn)，構成一個以O點為中心的圓。測定的頂點偏芯值OA或OB將與實際的頂點偏芯相同。也就是說，無論旋轉(zhuǎn)光纖連接器到什幺角度，測定的頂點偏芯值的變化將不會太大。相反，如圖4（b）所示，當載物臺傾斜調(diào)整不完整時，干涉儀光學系統(tǒng)的光軸將會與被測定光纖連接器的插芯的中心軸交叉成一個角度。此時，旋轉(zhuǎn)被測定光纖連接器時，光纖連接器端面的球面頂點（環(huán)形干涉條紋的中心如A點，B點，C點或D點）會繞一個與光纖的中心O不相同的中心O*旋轉(zhuǎn)，構成一個以O*為中心的圓。顯然，在不同位置測量的頂點偏芯值OA，OB或OC將與實際的頂點偏芯OD不相同。也就是說，旋轉(zhuǎn)光纖連接器后，測定的頂點偏芯值將會有很大的變化。從這個現(xiàn)象也可以得到一個檢驗載物臺傾斜調(diào)整是否完整的方法。即，旋轉(zhuǎn)光纖連接器，依次測定頂點偏芯值，如果測定的頂點偏芯值變化不大，則載物臺傾斜調(diào)整是完整的。反之，則載物臺傾斜調(diào)整是不完整的。為了提高載物臺傾斜的調(diào)整精度，富士寫真光機株式會社開發(fā)了一種高精度，操作簡單的載物臺傾斜調(diào)整技術（已申請多國專利）7,8，可以達到大大高于一般調(diào)整方法的調(diào)整精度。（3）測量再現(xiàn)性測量再現(xiàn)性對光纖連接器端面檢測儀的測量精度有很大的影響。以頂點偏心為例，目前，絕大部分廠商生產(chǎn)的光纖連接器端面檢測儀的測量再現(xiàn)性精度大約在±5μm附近。這些數(shù)據(jù)可以從各廠家的網(wǎng)頁方便的查到。有的廠家以測量再現(xiàn)性的標準偏差σ來衡量。按照誤差理論的計算方法，此時的測量再現(xiàn)性最大誤差可達±3σ，大約也在±6μm附近。一般不可能要求測量儀器的測量精度高于測量再現(xiàn)性精度。所以再現(xiàn)性精度是判定測量儀器的測量精度最重要指標之一。光纖連接器端面檢測儀的測量再現(xiàn)性精度主要由光纖連接器端面檢測干涉儀的測量再現(xiàn)性精度（由PZT的位相移動精度，CCD攝像頭的精度和圖像卡的A/D轉(zhuǎn)換器的精度，測量電路的噪聲，測量環(huán)境，如振動，溫度的變化決定），以及載物臺光纖連接器固定夾具的定位精度來決定。此外，一般由于光纖連接器插入固定夾具的旋轉(zhuǎn)方向角度的不確定性（除APC光纖連接器），載物臺的傾斜調(diào)整精度也會影響測量再現(xiàn)性精度。對于干涉儀的測量再現(xiàn)性，可以固定光纖連接器于載物臺的固定夾具上，在不拔出光纖連接器的狀態(tài)下反復進行測量。然后，對測量的數(shù)值進行處理，從而評價干涉儀本身的測量再現(xiàn)性。一般來說，基于現(xiàn)代干涉儀測量技術和干涉條紋解析技術而開發(fā)的干涉儀具有很高的測量再現(xiàn)性。不過，由于光學設計及光路布置不當，有些廠家的干涉儀對振動很敏感，從而影響干涉儀的測量再現(xiàn)性精度。對于光纖連接器固定夾具的定位精度，可以多次插入/拔出被測光纖連接器，對同一光纖連接器反復進行測量。然后，對測量的數(shù)值進行處理，從而評價光纖連接器固定夾具的定位精度。必須指出的是，由于大多采用某種標準器，如標準光纖連接器來進行載物臺的傾斜調(diào)整，載物臺的傾斜調(diào)整精度也會受到固定夾具的定位精度的影響，因此，提高固定夾具的定位精度是提高整個光纖連接器端面檢測儀的測量精度的關鍵。為了提高固定夾具的定位精度，富士寫真光機株式會社開發(fā)了一種高精度，操作簡單，可靠性高的光 http://cache.baidu.com/c?word=%B9%E2%CF%CB%3B%B8%C9%C9%E6%3B%D2%C7%2C%D4%AD%C0%ED&url=http%3A//www%2E0net%2Ecn/element/10445%2Ehtml&p=cb6ff915d9c544ee0fb3c7710e1383&user=baidu

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干涉儀，四大干涉儀都有啥邁克爾遜菲索FP

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1，四大干涉儀都有啥邁克爾遜菲索FP

2，干涉儀的應用

3，Sagnac干涉儀的原理

4，光學干涉儀

5，什么叫干涉儀干涉儀的原理和構造

6，光纖干涉儀的原理是什么

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3，Sagnac干涉儀的原理

4，光學干涉儀

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