掃描電鏡檢測(cè)，掃描電子顯微鏡主要檢測(cè)的是什么電子

來源：整理時(shí)間：2023-10-16 08:41:33 編輯：智能門戶手機(jī)版

1，掃描電子顯微鏡主要檢測(cè)的是什么電子

掃描電鏡主要用作成像的有二次電子和背散射電子，二者成的像不同。前者是形貌像，后者是成分像。

掃描電子顯微鏡主要檢測(cè)的是什么電子

2，掃描電鏡實(shí)驗(yàn)時(shí) 有哪些安全重點(diǎn)

1、最重要的：樣品不要撞到探頭！2、放入樣品前，必須固定好樣品，避免脫落，粉末樣品沒粘牢的要吹掉，避免進(jìn)入電子槍通道阻塞之；3、放入樣品必須保證干燥。4、還有一些其他的就不算安全重點(diǎn)了，比如：控制好溫濕度，震動(dòng)、噪聲不要太大，取放樣品戴手套等等

掃描電鏡實(shí)驗(yàn)時(shí) 有哪些安全重點(diǎn)

3，掃描電鏡都能做些什么

觀察斷口、金相試樣、生物樣品、礦物樣品等等，只要能放進(jìn)樣品室，什么都可以觀察。配備能譜或波譜，可以打成分配備EBSD可以看衍射圖配備熱臺(tái)可以看加熱形貌變化，配備拉伸臺(tái)可以進(jìn)行動(dòng)態(tài)拉伸

有熔劑的話是不能直接用sem的，必須讓熔劑先揮發(fā)掉，然后再將樣品放在導(dǎo)電膠上放sem里觀察，如果樣品導(dǎo)電性差，最好先蒸鍍一層導(dǎo)電金屬薄膜。

掃描電鏡都能做些什么

4，掃描電鏡怎么測(cè)膜厚度

掃描電鏡的試樣制備是一個(gè)非常重要的老問題,特別是場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡觀察過程中的非導(dǎo)電試樣的制備方法,制備方法不正確就會(huì)出現(xiàn)一些假象.本文主要討論了與SEM圖像質(zhì)量相關(guān)的因素,例如加速電壓、鍍膜厚度、試樣尺寸及固定方法等,舉例說明了選擇最佳條件在無機(jī)非金屬材料研究中的應(yīng)用.鍍膜是解決非導(dǎo)電試樣荷電現(xiàn)象的主要方法,也可以提高圖像質(zhì)量,但往往產(chǎn)生假象,對(duì)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡試樣要特別注意鍍膜材料和鍍膜厚度.鍍膜材料要根據(jù)試樣材料和放大倍率選擇,在一萬倍以下觀察圖像時(shí),可以蒸鍍金膜,用場(chǎng)發(fā)射SEM觀察高倍圖像時(shí),應(yīng)蒸鍍厚幾nm的難熔金屬Pt或者Pt-Pd合金.

5，掃描電鏡適合測(cè)定什么樣的樣品啊測(cè)毛細(xì)管成嗎

毛細(xì)管需要噴金，多角度旋轉(zhuǎn)噴！用導(dǎo)電膠或者銀膠固定。

可以觀察，不過要噴金或噴碳

樣品需是導(dǎo)電的才行，絕緣樣品需要經(jīng)過處理才能觀測(cè)到表面形貌。

能固定在銅臺(tái)上，噴了金就能觀察吧！

看的是樣品表面形態(tài)，不導(dǎo)電的需要噴金處理，然后觀測(cè)！

掃描電鏡（SEM）主要是用來觀察表面形貌的，有的也可以用來測(cè)定元素你的樣品不導(dǎo)電也可以因?yàn)闃悠酚^察前要進(jìn)行噴金，就可以導(dǎo)電了另外就是有SEM有的是要求樣品干燥的所以要抽真空，有的是不要求干燥的關(guān)鍵看你們的儀器要求了

6，如何對(duì)巖石表面進(jìn)行掃描電鏡測(cè)試

可以直接切割，取上層，進(jìn)行掃描電鏡測(cè)試。

巖礦石鑒定是一項(xiàng)非常復(fù)雜的工作，一般使用掃描電鏡和電子探針結(jié)合來進(jìn)行見鑒定。從科學(xué)的層面，中科院地質(zhì)所張汝藩著《掃描電鏡與微觀地質(zhì)研究》中有大量的巖礦微觀圖譜，這是最基本礦物的圖譜。工程技術(shù)層面來分析鑒定, 由于一般巖石礦物成分復(fù)雜，多種伴生礦，不同種類礦石比例含量不同，如果需要對(duì)礦物加工，就需要定量研究，必須使用電子探針。電子探針相對(duì)掃描電鏡來說，可以說是帶有多道波譜的高精度微區(qū)元素定量分析系統(tǒng)，這在科學(xué)研究中相當(dāng)重要。目前也出現(xiàn)對(duì)礦石在加工過程中現(xiàn)場(chǎng)快速自動(dòng)分析的sem+eds。以上二者應(yīng)用于工程領(lǐng)域的專業(yè)化自動(dòng)化分析手段，相對(duì)實(shí)驗(yàn)室sem，顯得昂貴。