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keithley，吉時(shí)利的介紹

來(lái)源：整理時(shí)間：2024-11-01 11:16:16 編輯：智能門戶手機(jī)版

1，吉時(shí)利的介紹

吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（屬于泰克Tektronix公司）為滿足全球客戶的不斷發(fā)展變化的測(cè)試與測(cè)量需求提供可靠解決方案。

吉時(shí)利的介紹

2，keithley2400電流最小可以測(cè)多少

keithley2400測(cè)量電流的時(shí)候，放在最小量程，其缺省測(cè)量分辨率是10pA；測(cè)量準(zhǔn)確度是0.029% + 300 pA。

可以測(cè)到10pA

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3，吉時(shí)利萬(wàn)用表怎么樣

Keithley 現(xiàn)隸屬于泰克公司，Keithley 和 Tektronix 提供最廣泛的工作臺(tái)和系統(tǒng)數(shù)字萬(wàn)用表 (DMM) 以滿足各種測(cè)量要求。不論您是需要學(xué)生實(shí)驗(yàn)室的基本 DMM 還是用于元器件、模塊、組裝產(chǎn)品或產(chǎn)品測(cè)試的精準(zhǔn) DMM，均可從 5 ? 位分辨率到 8 ? 位分辨率 DMM 中進(jìn)行選擇。Agitek是泰克的綜合服務(wù)商，Keithley 和 Tektronix提供高精度臺(tái)式萬(wàn)用表，可適應(yīng)數(shù)據(jù)采集和自動(dòng)測(cè)試需求。

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吉時(shí)利萬(wàn)用表怎么樣

4，吉時(shí)利的企業(yè)歷史

半個(gè)世紀(jì)以來(lái)，吉時(shí)利（Keithley）儀器公司始終居于不斷滿足測(cè)量需求的測(cè)試測(cè)量解決方案領(lǐng)導(dǎo)地位。從早期向二戰(zhàn)后期實(shí)驗(yàn)室研究員的提供先進(jìn)的直流電氣測(cè)量技術(shù)，到現(xiàn)在針對(duì)領(lǐng)先的半導(dǎo)體、無(wú)線、納米技術(shù)應(yīng)用的解決方案，吉時(shí)利測(cè)試儀器在先進(jìn)的電氣測(cè)量領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家中樹立了世界范圍的聲譽(yù)。隨著世界對(duì)半導(dǎo)體、移動(dòng)電話，便攜式無(wú)線電器件和消費(fèi)電子產(chǎn)品需求的增長(zhǎng)，吉時(shí)利的測(cè)量投資組合向靈敏的直流（DC）產(chǎn)品之外包括脈沖測(cè)量技術(shù)和交流（AC）測(cè)試產(chǎn)品擴(kuò)展。目前吉時(shí)利的產(chǎn)品已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不只是用于研究實(shí)驗(yàn)室，盡管這仍然是公司的核心競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。吉時(shí)利的測(cè)量工具對(duì)于臺(tái)式設(shè)計(jì)和面向高產(chǎn)能的自動(dòng)化測(cè)量應(yīng)用的生產(chǎn)基層同樣重要。吉時(shí)利對(duì)最苛刻的極弱電學(xué)測(cè)量需求能夠提供精確解決方案的能力讓吉時(shí)利的客戶可以改進(jìn)他們的生產(chǎn)和過(guò)程，加快研發(fā)和上市周期。吉時(shí)利產(chǎn)品在80多個(gè)國(guó)家銷售，憑借新的測(cè)試測(cè)量技術(shù)贏得了行業(yè)贊譽(yù)，包括多次R&D 100 Award大獎(jiǎng)，也獲得了來(lái)自行業(yè)媒體的各種獎(jiǎng)項(xiàng)，例如半導(dǎo)體國(guó)際，固態(tài)元件技術(shù)，電子產(chǎn)品，測(cè)試測(cè)量世界和亞洲電子制造等。2010年吉時(shí)利加入了泰克公司，作為美國(guó)丹納赫集團(tuán)測(cè)試測(cè)量事業(yè)部門一部分。泰克是全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域的電子內(nèi)容監(jiān)控解決方案提供商。

5，keithley 2440與2400有什么區(qū)別

內(nèi)部指令相同，差別在于輸出電壓和電流范圍不一樣；其測(cè)量軟件由吉時(shí)利第三方軟件開發(fā)商北京漢雷科技提供，功能強(qiáng)大，主要特點(diǎn)如下：1.可測(cè)量?jī)蓚€(gè)樣品，一套軟件將您的2400變成兩臺(tái)使用，大大提高測(cè)試效率，無(wú)需人工換樣。 2. GPIB，RS232雙接口支持。3.支持不限時(shí)單階I-T、V-T測(cè)量實(shí)時(shí)顯示模式；緩沖區(qū)快速模式；可設(shè)置成有源電流、電壓輸出模式。本功能可用于電化學(xué)計(jì)時(shí)安培法，計(jì)時(shí)電位法。4.電阻直接測(cè)量，對(duì)于小阻值電阻，支持4線法測(cè)量，結(jié)果更加精確，4線法測(cè)量原理請(qǐng)參考說(shuō)明書。5.支持不限時(shí)多階I-T、V-T測(cè)量，可任意組合N階方波、階梯波持續(xù)輸出。本功能可用于電化學(xué)多電流躍階，多電位躍階輸出測(cè)量。6.支持I-V（電壓掃描）、V-I（電流掃描）掃描輸出測(cè)量， I-V、V-I掃描支持以下幾種方式1）單向：起點(diǎn)->終點(diǎn)2）雙向：起點(diǎn)->終點(diǎn)；終點(diǎn)->起點(diǎn)。3) 0->正最大，正最大->0,0->負(fù)最大，負(fù)最大->04) 不均勻，例如：從0到5V，步長(zhǎng)10mV，從5V到10V，步長(zhǎng)100mV。 5)其它任意組合掃描，每個(gè)掃描可由8段不同的區(qū)域組成，每個(gè)區(qū)域可定義不同的起始和終止值，以及步長(zhǎng)。6)掃描均可不間斷循環(huán)執(zhí)行。7.太陽(yáng)能電池IV測(cè)量，可設(shè)置樣品面積，環(huán)境溫度，溫度修正系數(shù)（加入Isc，Voc，Pmax修正參數(shù)，結(jié)果更加可靠），可正反向掃描，軟件可自動(dòng)判斷，直接算出太陽(yáng)能電池IV測(cè)試結(jié)果。8.功能采用模塊序列化設(shè)計(jì)，單項(xiàng)功能可任意組合編輯，例如：1）需要對(duì)一個(gè)材料樣品施加一定時(shí)間的電壓后進(jìn)行IV掃描，就可以通過(guò)恒壓模塊+電壓掃描模塊順序執(zhí)行，完全無(wú)需人工干預(yù)。2）需要對(duì)兩個(gè)太陽(yáng)能電池進(jìn)行IV測(cè)試，可建立兩個(gè)太陽(yáng)能電池IV測(cè)試模塊，分別設(shè)置為前面板和后面板測(cè)量，并將兩個(gè)太陽(yáng)能電池連接到前面板和后面板，軟件自動(dòng)進(jìn)行前后面板的測(cè)量和切換測(cè)試，相當(dāng)于將1臺(tái)儀器變成兩臺(tái)儀器使用，效率提高一倍。3）通過(guò)不同模塊功能的組合，打造屬于您自己的“定制儀器”。9.數(shù)據(jù)測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)保存，數(shù)據(jù)可由Excel，文本編輯器，Origin直接打開，在測(cè)試過(guò)程中可設(shè)置圖形自動(dòng)保存，在每一步驟結(jié)束后，圖形將保存為JPG格式。

6，如何用keithley進(jìn)行iddq測(cè)試

包括 1. 開路/短路測(cè)試(輸入箝（同鉗，qian)位電壓VIK的測(cè)試）開短路測(cè)試（又稱OPEN/SHORT 測(cè)試，O/S測(cè)試，continuity test 或contact test），主要是用于測(cè)試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測(cè)試就是測(cè)試開路與短路，具體點(diǎn)說(shuō)就是測(cè)試一個(gè)電子器件應(yīng)該連接的地方是否連接，如果沒(méi)有連接上就是開路，如果不應(yīng)該連接的地方連接了就是短路。通常都會(huì)被放測(cè)試程序的最前面。2.輸出高低電平（VOH/VOL)測(cè)試VOH/VOL測(cè)試的目的是檢查器件在指定電壓下輸出電流的能力。輸入端在施加規(guī)定的電平信號(hào)下，使輸出端位邏輯高/低電平時(shí)的電壓。VCC通常位規(guī)定范圍的最小值，測(cè)試使用IFVM（加恒流測(cè)電壓）方式，對(duì)于VOH測(cè)試，在輸出端抽取規(guī)定范圍的IOH，其余輸出端開路，同時(shí)測(cè)量該輸出端的電壓VOH。同理對(duì)于測(cè)量VOL時(shí)候，抽取IOL，測(cè)量到的電壓就為VOL。這兩個(gè)參數(shù)的測(cè)試主要時(shí)檢查器件的抗干擾能力。3.輸入高/低(IIH/IIL)電流測(cè)試輸入端在輸入規(guī)定的電壓值VIH/VIL時(shí)候，測(cè)量到流入輸入端的電流值IIH/IIL。目的是檢查DUT的輸入負(fù)載特性。這個(gè)參數(shù)主要時(shí)驗(yàn)證器件接受邏輯值1和0的能力。4.輸入漏電流II測(cè)試所謂泄漏電流是指在沒(méi)有故障施加電壓的情況下，電氣中帶相互絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過(guò)其周圍介質(zhì)或絕緣表面所形成的電流稱為泄漏電流。輸入端在輸入最大電壓VL時(shí)流入被測(cè)試器件的電流。VCC設(shè)定為規(guī)范中的最大值。和測(cè)量輸入高低電流方法一樣，只是加壓和測(cè)量的電流值不一樣。其余輸入端加規(guī)定電平。輸出端開路。IL用于檢查器件的扇入負(fù)載的特性。泄漏電流實(shí)際上就是電氣線路或設(shè)備在沒(méi)有故障和施加電壓的作用下，流經(jīng)絕緣部分的電流。因此，它是衡量電器絕緣性好壞的重要標(biāo)志之一，是產(chǎn)品安全性能的主要指標(biāo)。檢測(cè)的意義在于判斷產(chǎn)品耐高壓的安全性。5.輸出短路電路IOS測(cè)試（output short circuit current test)輸出短路電流（IOS），顧名思義，就是輸出端口處于短路狀態(tài)時(shí)的電流。6.輸出高阻電流（IOZH/IOZL）IOZL指的是一個(gè)低電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上，管腳上產(chǎn)生的漏電流，與之類似，IOZH指的是一個(gè)高電平施加在一個(gè)處于高阻態(tài)的輸出管腳上，管腳上產(chǎn)生的漏電流。7.電源電流測(cè)試電源電流測(cè)試包括IDD總電流測(cè)試（IDD Gross Current），IDD靜態(tài)電流測(cè)試（IDD static Current），IDDQ測(cè)試，動(dòng)態(tài)IDD測(cè)試（Dynamic Current）。在輸入端施加規(guī)定的電平使輸出端為邏輯高高電平，此時(shí)流經(jīng)器件電源輸入端的電流為ICCH，同理當(dāng)輸出端表現(xiàn)為邏輯低電平時(shí)，對(duì)應(yīng)為ICCL。此測(cè)量用于檢查器件的功耗。