强奸久久久久久久|草草浮力在线影院|手机成人无码av|亚洲精品狼友视频|国产国模精品一区|久久成人中文字幕|超碰在线视屏免费|玖玖欧洲一区二区|欧美精品无码一区|日韩无遮一区二区

首頁 > 資訊 > 經(jīng)驗 > 失效分析與預(yù)防,電路板失效分析 包括哪些項目

失效分析與預(yù)防,電路板失效分析 包括哪些項目

來源:整理 時間:2024-02-04 17:46:42 編輯:智能門戶 手機版

1,電路板失效分析 包括哪些項目

常見的電路板失效分析項目包括:電源接地、低電阻和線路短路;電子元件受力;散熱故障;程序錯誤;BGA短路,VCO短路和去耦電容短路。你要更詳細的資料可以咨詢 微譜檢測。
你可以去找第三方檢測機構(gòu)去做一個pcb電路板失效分析,換器件只能解決一時,如果下次再發(fā)生呢?還是做個分析比較好,避免再次發(fā)生這樣的事故。

電路板失效分析 包括哪些項目

2,失效分析案例怎么寫主要是是對船舶軸系的失效分析及預(yù)防措施

失效分析從魚骨圖分析 人(制造人員) 機(機器) 料(物料)法(作業(yè)方法) 環(huán)(作業(yè)環(huán)境) 所有的失效Root Cause 都從這里尋找 , Corrective Action 圍繞出現(xiàn)原因來改善 。 Preventive Action 圍繞改善對策來寫······
船舶碰撞涉及到的問題有很多,比如直接碰撞和間接碰撞的區(qū)分問題。等等 案例有很多,發(fā)揮聰明才智,百度一下吧。

失效分析案例怎么寫主要是是對船舶軸系的失效分析及預(yù)防措施

3,LED失效分析

LED失效分析是對已經(jīng)失效了的LED進行分析的過程,為了了解器件失效的原因,必須對LED各個組成部分進行全面的研究。 首先要對LED的失效時間進行分析,對于接近設(shè)計壽命的元件,將不作分析,作退役處理,其他元件視其是否開路失效,而考慮是否進行光電參數(shù)的測試,再進行外觀測試;如果已經(jīng)是開路失效,將直接使用光學顯微鏡,金相顯微鏡等進行外觀檢測,分析可能存在的缺陷,如果在引腳與鍵合處存在失效,那么,將采用電子探針顯微測試分析引腳失效原因,再對元件進行紅外測試,找尋內(nèi)部缺陷。最后對缺陷部位進行定點剖析測試,確定失效原因?! ≡贚ED的失效分析過程中,必須注意到各種失效方式之間的相互聯(lián)系,在分析過程中要加以認識,結(jié)合失效時間,應(yīng)用環(huán)境,并尋找適當?shù)姆椒右詤^(qū)分。  雖然在研究過程中,盡可能地完善檢測條件與方法去查找失效原因相當重要,然而,更應(yīng)當意識到失效預(yù)防的重要性,因此利用失效分析得出LED的失效原因后,找出避免再次出現(xiàn)同類失效方式的方法,這才是失效分析的目的所在。
方案有外延芯片的測試與評估、熱學測試與評估、電學測試與評估、光學測試與評估、可靠性測試等等。當然,如果你想提高自身知識,也可以參加一些led專題研討會。

LED失效分析

4,什么是失效分析

失效分析是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等。早期失效率高的原因是產(chǎn)品中存在不合格的部件;晚期失效率高的原因是產(chǎn)品部件經(jīng)長期使用后進入失效期。機械產(chǎn)品中的磨合、電子元器件的老化篩選等就是根據(jù)這種失效規(guī)律而制定的保證可靠性的措施。擴展資料:失效分析的主要分類:1、 狹義的失效分析:主要目的在于找出引起產(chǎn)品失效的直接原因。2、廣義的失效分析:不僅要找出引起產(chǎn)品失效的直接原因,而且要找出技術(shù)管理方面的薄弱環(huán)節(jié)。3、新品研制階段的失效分析:對失效的研制品進行失效分析。4、產(chǎn)品試用階段的失效分析:對失效的試用品進行失效分析。5、定型產(chǎn)品使用階段的失效分析:對失效的定型產(chǎn)品進行失效分析。參考資料來源:搜狗百科-失效分析
定義:失效分析是指分析研究構(gòu)件的斷裂,表面損傷及變形等失效現(xiàn)象的特征及規(guī)律的一門技術(shù)。一、失效及其常見形式:機械構(gòu)件由于組織與性能發(fā)生變化而引起不能完成指定功能時,稱之為失效。最常見的失效形式有機械力破壞、腐蝕性破壞、高溫破壞。二、失效分析及其意義:失效分析是指分析研究構(gòu)件的斷裂,表面損傷及變形等失效現(xiàn)象的特征及規(guī)律的一門技術(shù)。意義:失效分析對改進產(chǎn)品設(shè)計,選材等提供依據(jù),并防止或減少斷裂事故發(fā)生;通過失效分析還可以預(yù)測可靠性;可以提高機械產(chǎn)品的信譽,并能起到技術(shù)反饋作用。
正常工作的零件,無論是變形或斷裂,導(dǎo)致無法正常應(yīng)用,失去了功效,就要進行分析,以便改進提高,這個過程就叫失效分析。
失效分析是人們認識事物本質(zhì)和發(fā)展規(guī)律的逆向思維和探索,是變失效為安全的基本環(huán)節(jié)和關(guān)鍵,是人們深化對客觀事物的認識源頭和途徑。
零部件在服役過程中失去了正常功能,不能繼續(xù)使用的現(xiàn)象叫做失效,通常的失效有斷裂(或裂紋)、變形、磨損、腐蝕等。對零部件失效原因進行分析的過程就叫失效分析。

5,怎樣進行芯片失效分析

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當?shù)葐栴}。失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來說,失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面: 失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修復(fù)芯片的設(shè)計,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產(chǎn)測試提供必要的補充,為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。失效分析主要步驟和內(nèi)容芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。SEM 掃描電鏡/EDX成分分析:包括材料結(jié)構(gòu)分析/缺陷觀察、元素組成常規(guī)微區(qū)分析、精確測量元器件尺寸等等。探針測試:以微探針快捷方便地獲取IC內(nèi)部電信號。鐳射切割:以微激光束切斷線路或芯片上層特定區(qū)域。EMMI偵測:EMMI微光顯微鏡是一種效率極高的失效分錯析工具,提供高靈敏度非破壞性的故障定位方式,可偵測和定位非常微弱的發(fā)光(可見光及近紅外光),由此捕捉各種元件缺陷或異常所產(chǎn)生的漏電流可見光。OBIRCH應(yīng)用(鐳射光束誘發(fā)阻抗值變化測試):OBIRCH常用于芯片內(nèi)部高阻抗及低阻抗分析,線路漏電路徑分析。利用OBIRCH方法,可以有效地對電路中缺陷定位,如線條中的空洞、通孔下的空洞。通孔底部高阻區(qū)等,也能有效的檢測短路或漏電,是發(fā)光顯微技術(shù)的有力補充。LG液晶熱點偵測:利用液晶感測到IC漏電處分子排列重組,在顯微鏡下呈現(xiàn)出不同于其它區(qū)域的斑狀影像,找尋在實際分析中困擾設(shè)計人員的漏電區(qū)域(超過10mA之故障點)。定點/非定點芯片研磨:移除植于液晶驅(qū)動芯片 Pad上的金凸塊, 保持Pad完好無損,以利后續(xù)分析或rebonding。X-Ray 無損偵測:檢測IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝中的錫球完整性。
一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當?shù)葐栴}。失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來說,失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面: 失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修復(fù)芯片的設(shè)計,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產(chǎn)測試提供必要的補充,為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。失效分析主要步驟和內(nèi)容芯片開封:去除ic封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準備。sem 掃描電鏡/edx成分分析:包括材料結(jié)構(gòu)分析/缺陷觀察、元素組成常規(guī)微區(qū)分析、精確測量元器件尺寸等等。探針測試:以微探針快捷方便地獲取ic內(nèi)部電信號。鐳射切割:以微激光束切斷線路或芯片上層特定區(qū)域。emmi偵測:emmi微光顯微鏡是一種效率極高的失效分錯析工具,提供高靈敏度非...缺陷觀察。定點/,為生產(chǎn)測試提供必要的補充:利用液晶感測到ic漏電處分子排列重組,為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ),封裝中的錫球完整性。探針測試、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免、爆裂一般來說、短路或不正常連接的缺陷。失效分析主要步驟和內(nèi)容芯片開封,如線條中的空洞、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當?shù)葐栴};edx成分分析:以微探針快捷方便地獲取ic內(nèi)部電信號,同時保持芯片功能的完整無損,開路: 失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。 失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修復(fù)芯片的設(shè)計:檢測ic封裝中的各種缺陷如層剝離,線路漏電路徑分析,在顯微鏡下呈現(xiàn)出不同于其它區(qū)域的斑狀影像,是發(fā)光顯微技術(shù)的有力補充,bond wires乃至lead-frame不受損傷,也能有效的檢測短路或漏電,可偵測和定位非常微弱的發(fā)光(可見光及近紅外光):以微激光束切斷線路或芯片上層特定區(qū)域。 失效分析可以評估不同測試向量的有效性。失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來說,提供高靈敏度非破壞性的故障定位方式:包括材料結(jié)構(gòu)分析/,失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面、精確測量元器件尺寸等等:去除ic封膠,保持 die:emmi微光顯微鏡是一種效率極高的失效分錯析工具。x-ray 無損偵測,pcb制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接、元素組成常規(guī)微區(qū)分析。lg液晶熱點偵測。obirch應(yīng)用(鐳射光束誘發(fā)阻抗值變化測試),bond pads, 保持pad完好無損。利用obirch方法,可以有效地對電路中缺陷定位,通過芯片失效分析。emmi偵測,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,為下一步芯片失效分析實驗做準備,由此捕捉各種元件缺陷或異常所產(chǎn)生的漏電流可見光,以利后續(xù)分析或rebonding、空洞以及打線的完整性。鐳射切割、通孔下的空洞,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息,失效分析工作也顯得越來越重要:移除植于液晶驅(qū)動芯片 pad上的金凸塊;非定點芯片研磨。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。通孔底部高阻區(qū)等,找尋在實際分析中困擾設(shè)計人員的漏電區(qū)域(超過10ma之故障點)。sem 掃描電鏡/:obirch常用于芯片內(nèi)部高阻抗及低阻抗分析,集成電路在研制

6,什么是疲勞失效應(yīng)如何預(yù)防疲勞失效現(xiàn)象的發(fā)生

1 失效 機械產(chǎn)品喪失功能的現(xiàn)象稱為失效 >>  2 失效分析 分析失效的原因,研究采取補救和預(yù)防措施的技術(shù)活動和管理活動稱為失效分析。  失效分析的目的是減少同類失效事故的重復(fù)發(fā)生?! ∈Х治龅闹攸c是分析失效的原因和采取預(yù)防措施,即所謂失效診斷和失效對策?! ∈Х治龅姆秶羌夹g(shù)活動和管理活動的綜合?! ∈Х治龅囊罁?jù)則是機械產(chǎn)品的性能參數(shù)、機械零件、設(shè)備合系統(tǒng)的可靠度分析資料(即數(shù)理統(tǒng)計資料)及機械零部件的失效殘骸?! ? 事故 “失效”與“事故”更是緊密相關(guān)的兩個范疇;  “事故”強調(diào)的是后果,即造成的損失合危害,  而“失效”強調(diào)的是機械產(chǎn)品本身的功能狀態(tài)?! ? 失效模式  失效機理 從失效分析的技術(shù)觀點進行分類主要是按失效模式和失效機理分類。  失效模式是指失效的外在宏觀表現(xiàn)形式和規(guī)律。  失效機理則是指引起失效的微觀的物理化學變化過程和本質(zhì)。  5 安全度  可靠度 產(chǎn)品的安全度或產(chǎn)品的可靠度R(t)是產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi)滿意地完成規(guī)定功能的概率;  它是相對于產(chǎn)品失效率F(t)的概念而言的,即: R(t)=1-F(t)  產(chǎn)品的剩余壽命的預(yù)測實際上是估算產(chǎn)品無故障(失效)的平均工作時間t,對偶然失效期(或稱為隨機失效期)來說,平均工作時間t即為失效率λ的倒數(shù),即t=1/λ?! ? 失效物理 是從原理上,即從原子和分子的角度出發(fā),來解釋元件、材料失效的現(xiàn)象。  失效物理的基礎(chǔ)是數(shù)理統(tǒng)計方法、可靠性工程和材料科學工程學?! ∈锢淼幕狙芯績?nèi)容則是:失效的物理模型及定量的描述方法、失效物理模式的識別及其應(yīng)用?! ∈C理是研究失效的物理、化學原因、失效過程及其影響因素等?! ? 最小割集  是指包含在這個集合里的全部基本事件發(fā)生時造成頂事件發(fā)生的必要充分條件,它表示系統(tǒng)的危險性,每一個最小割集都是頂事件發(fā)生的一種可能; 即最小割集表示了哪些故障和差錯同時發(fā)生時,頂事件就發(fā)生?! ? 最小徑集  指包含在這個集合內(nèi)部的基本事件不發(fā)生,就保證頂事件不發(fā)生的基本事件的最小組合,它表示系統(tǒng)的安全性?! ? 失效模擬 失效模擬(故障再現(xiàn))是事故檢查中經(jīng)常采用的一種分析和驗證方法?! 」收显佻F(xiàn)可以驗證現(xiàn)場調(diào)查和殘骸分析中所得出的是故直接原因;可以在殘骸不全、證據(jù)不充分的情況下,提供事故的可能原因;可以解決殘骸分析中的某些疑點,排除某些現(xiàn)象;還可以顯示失效(故障)的發(fā)展過程、殘骸的破壞順序等。  10 失效補救  指正在運行中的同類機械(系統(tǒng))的處理問題,以防同類失效事故的再次重復(fù)發(fā)生?! ?1 無損檢測  是在不損壞材料、機械和結(jié)構(gòu)物等檢測對象的情況下,對于其性質(zhì)、形態(tài)、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、內(nèi)部缺陷等方面的檢測方法。 >>  12 拉伸斷口 1)圓形試樣拉伸斷口  圓形光滑試樣的拉伸斷口一般為杯錐狀,其表面大致可分為三個區(qū)域:纖維區(qū);放射區(qū);剪切唇區(qū)?! ‘攬A形試樣帶有缺口時,其拉伸斷口形貌與光滑拉伸試樣完全不同?! 嗔巡皇菑闹行牟课婚_始,而是從缺口根部開始;最后斷裂區(qū)在試樣中心,并沒有剪切唇區(qū)?! ?)矩形試樣拉伸斷口  也有三個區(qū)域,每個區(qū)域的特征均稍有變化,變化最大的是放射區(qū)?! 【匦卧嚇拥睦w維區(qū)為橢圓形;寬度明顯比厚度大的矩形試樣的放射區(qū)為人字形花樣,人字形的頂點指向裂紋源。  這對于薄板型結(jié)構(gòu)的裂紋擴展途徑和尋找裂紋源是很有用的。 >>  13 沖擊斷口 沖擊斷口也存在三個區(qū)域,即纖維區(qū)、放射區(qū)及剪切唇區(qū);  斷裂過程是首先在缺口中部形成裂紋源,然后是纖維區(qū)、放射區(qū)及沿無缺口的其它三邊分布的剪切唇區(qū)?! 」こ躺铣S脹_擊韌性試樣來測定脆性轉(zhuǎn)變溫度,當在脆性轉(zhuǎn)變溫度以下時,纖維區(qū)面積突然減少,放射區(qū)面積顯著增加,材料由延性變?yōu)榇嘈浴?>>  14 疲勞斷口  典型的疲勞斷口由:疲勞源區(qū)、疲勞裂紋穩(wěn)定擴展區(qū)和快速斷裂區(qū)三部分組成。  疲勞斷口表面上還有一個重要形貌特征就是:棱線或臺階,它一般是由不在一個平面上的小斷裂平臺相互連接時撕裂而成的?! ?5 疲勞源  通常是在疲勞弧線的凹面一側(cè),疲勞弧線的法線或棱線方向表征裂紋的擴展方向,而這些法線或放射棱線的匯集點就是裂紋源的位置?! ?6 疲勞源區(qū) 是疲勞斷裂的起始處,一般用肉眼或低倍放大鏡就可確定其位置?! ∫话阏f,源的數(shù)目愈多,則反映外加應(yīng)力愈高,應(yīng)力集中位置愈多或應(yīng)力集中系數(shù)愈大?! ?7 疲勞裂紋穩(wěn)定擴展區(qū)  疲勞弧線  通常形成海灘或貝殼花樣,它是裂紋擴展過程中裂紋前緣位置的標記,是由于載荷停頓、幅值或頻率改變引起  裂紋擴展停頓或速率變化時形成的圓弧線條,稱為疲勞弧線?! ?8 快速斷裂區(qū)  瞬斷區(qū)  是當裂紋擴展達到臨界長度,最大應(yīng)力強度因子Kmax達到材料的平面應(yīng)力條件下的臨界值Kc,或最大應(yīng)力水平達到材料剩余截面的斷裂強度時快速斷裂生成的?! ∑浜暧^形貌特征和缺口拉伸斷口的基本相同?! ?9 微觀形貌特征 可分為:韌窩斷口、解理斷口、疲勞斷口和沿晶斷口  20 解理斷口 解理是金屬或合金在外加正應(yīng)力作用下,沿某些特定低指數(shù)結(jié)晶學平面(解理面)發(fā)生的一種低能斷裂現(xiàn)象?! ∫话愠蚀嘈蕴卣鳎苄∷苄宰冃?。斷面呈結(jié)晶狀,有許多強烈反光的小平面。 >>  21 臺階  河流花樣 解理斷口最突出的微觀特征是臺階與河流花樣?! ≡S多臺階相互匯合便形成“河流”花樣,裂紋源在“河流”上流,順流方向為裂紋擴展方向。 >>  22 舌形花樣 解理面上的另一個斷口形貌特征;它來源于二次裂紋包圍的形狀。  舌頭方向表示裂紋擴展方向。 >>  23 魚骨狀花樣  解理斷口上的第三個特征形貌是魚骨狀花樣;脊骨的中線是  24 Walnor線  (瓦納線) 與宏觀人字形花樣相似,它是一組與裂紋擴展方向無關(guān)的很清晰的臺階。 >>  25 準解理 一種類似于解理斷裂的混合斷裂。當許多裂紋合并時就產(chǎn)生準解理。因此,人們以一個斷面上出現(xiàn)撕裂棱、臺階和舌狀花樣作為劃分準解理斷裂的依據(jù)?! 式饫頂嗫谂c解理斷口的區(qū)別在于:  準解理裂紋源總是在準解理面內(nèi),呈輻射狀向四周擴展,有與“河流”花樣類似的撕裂棱,但它短而彎曲,并且不連續(xù),斷面略有起伏?! ?6 微觀疲勞斷口  金屬疲勞斷裂是由交變應(yīng)力引起的一種緩慢斷裂過程。一般將它分為三個階段:即裂紋萌生、裂紋擴展和最后斷裂過程。  裂紋萌生包括:疲勞硬化或疲勞軟化、不均勻變形、形成駐留滑移帶和顯微裂紋?! ×鸭y擴展一般分為兩個階段:早期沿滑移面與應(yīng)力軸約呈45度方向的擴展為第Ⅰ階段,隨后沿垂直于應(yīng)力軸方向的擴展為第Ⅱ階段?! ?7 沿晶斷口 沿晶斷口可以由環(huán)境或材料本質(zhì)引起?! ⊥獠凯h(huán)境包括腐蝕介質(zhì)、氫氣、低熔點金屬、應(yīng)變速率和溫度等。材質(zhì)因素主要指晶界雜質(zhì)元素偏析和脆性相聚集等。 >>  28 裂紋  龜裂  直線狀裂紋 裂紋是一種不完全斷裂缺陷?! ×鸭y分析有時可以作為斷口分析的重要補充,有時可以起到其它方法不可代替的獨特作用?! ×鸭y分析的最終目的是確定產(chǎn)生裂紋的原因。  1、龜裂:一般情況下,龜裂是一種沿晶擴展的表面裂紋?! ?、直線狀裂紋:一般沿材料的縱向分布,如氧化物或其它非金屬夾雜物。熱處理、鍛軋材料表面常常出現(xiàn)。最典型的直線狀裂紋是由于發(fā)紋或其他非金屬夾雜物在后續(xù)工序中擴展而形成的裂紋。  3、其它形狀裂紋: 除上述龜裂及直線狀裂紋之外,還有各種形狀的裂紋如環(huán)形裂紋,周向裂紋、輻射狀裂紋、弧狀裂紋等等?! ?9 強度原則 即指裂紋總是希望沿著最小阻力路線——及材料的薄弱環(huán)節(jié)或缺陷處擴展的情況。 >>  30 宏觀檢驗 所謂宏觀檢驗,就是用肉眼或借助于10倍以下放大鏡的檢驗?! ?1 低倍酸浸檢驗 就是將預(yù)先制備好的試樣用酸浸蝕,以顯示其宏觀組織及缺陷的一種試驗方法。  32 塔形試驗 是用以檢驗鋼中發(fā)紋的一種試驗方法,因其所用試樣為三級臺階狀,形似塔狀,故稱塔形試驗?! ?3 偏析 鋼中凝固時產(chǎn)生各種元素分布不均勻的現(xiàn)象叫:偏析  C大于C0稱為正偏析,C小于C0則負偏析?! ∮兄?、區(qū)域偏析(定向晶區(qū)的偏析,倒V形正偏析,軸心偏析,上部正偏析)。 >>  34 低溫回火脆性  不可逆回火脆性  碳鋼和低合金鋼在250~400℃回火時出現(xiàn)的脆性稱為低溫回火脆性?! ⑦@種已產(chǎn)生脆性的工件在更高一些溫度回火后,其脆性即消失。再置于300℃左右重新回火時,脆性也不會重復(fù)出現(xiàn)?! ∫虼诉@種低溫回火脆性又叫做不可逆回火脆性?! 「邷鼗鼗鸫嘈浴 】赡婊鼗鸫嘈? 在450℃或更高至650℃左右溫度回火時出現(xiàn)的脆性,通常稱為高溫回火脆性或第二類回火脆性?! ∑涮攸c是在此溫度范圍回火時,如果快速冷卻(水冷或油冷),韌性并不降低;反之,慢冷(空冷或爐冷)則韌性顯著下降,冷卻越慢,韌性降低得越顯著?! ‘斠殉霈F(xiàn)這類回火脆性時,可用再次回火并快速冷卻的方法來加以消除。但在脆化溫度范圍內(nèi)回火時如長時間停留,隨后即使快冷也還會產(chǎn)生?! ≈貜?fù)回火時,如果慢冷,可能重新引起這種脆性?! ∫蚨@類回火脆性又稱為可逆回火脆性。  35 應(yīng)力腐蝕 金屬構(gòu)件在靜載拉應(yīng)力和特定的腐蝕環(huán)境共同作用下所導(dǎo)致的脆性斷裂為應(yīng)力腐蝕斷裂。
文章TAG:失效失效分析分析預(yù)防失效分析與預(yù)防包括哪些項目

最近更新