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eds能譜，EDX和EDS的區(qū)別

來源：整理時間：2023-08-23 02:42:53 編輯：智能門戶手機版

本文目錄一覽

1，EDX和EDS的區(qū)別
2，EDS的高能級譜線是什么
3，EDS能分析表面的元素組成嗎
4，什么是能譜分析儀
5，eds 是什么
6，eds 能譜上活時間死時間是什么意思

1，EDX和EDS的區(qū)別

　EDX是熒光分析.EDS是能譜分析.后者不是x射線能譜儀.如果想準確定量.可以考慮化學(xué)分析.XPS.或者俄歇分析(AES).XPS和AES對表面含量較為適合.

EDX和EDS的區(qū)別

2，EDS的高能級譜線是什么

高能能級跳回低能級時釋放的光子。你這個譜圖屬于氦原子，氦原子存在不同的電子能級。從不同的高能級跳回不同的低能級，能量差不同，所以發(fā)射的光子也不同，就得到若干不同譜線

EDS的高能級譜線是什么

3，EDS能分析表面的元素組成嗎

X射線能量分散譜儀（簡稱能譜儀或EDS）能譜儀可應(yīng)用于微區(qū)成分分析和樣品中元素的點分析、線分析、面分析。能譜儀與波譜儀類似，也有點分析、線分析、面分析三種分析方式，作用與波譜儀類似，但分析速度比波譜儀快的多，其缺點是其分辨率較波譜儀稍差，常有相鄰譜峰的重疊現(xiàn)象，使元素分析發(fā)生困難。

EDS能分析表面的元素組成嗎

4，什么是能譜分析儀

能譜分析儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡使用各種元素具有自己X射線特征波長特征波長大小則取決于能級躍遷過程釋放出特征能量△E能譜分析儀利用同元素X射線光子特征能量同特點來進行成分分析探頭：般Si(Li)鋰硅半導(dǎo)體探頭探測面積：幾平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV 探測元素范圍：Be4～U92

5，eds 是什么

EDS, an HP company 是全球信息服務(wù)業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者之一，以協(xié)助全球客戶提高企業(yè)的運營績效。另有EDS (能譜,Energy Dispersive Spectrometer)，EDS電氣設(shè)計軟件包 EDS縮寫詞 abbr. 1.=Electric Devices Society (美國)電子器件協(xié)會2.=English Dialect Society 英語方言學(xué)會3.=Environmental Data Services (美國)環(huán)境資料服務(wù)處eds.縮寫詞 abbr. 1.=editors1.電子差速鎖常用汽車英文縮寫之解釋 - 汽配論壇EDS-電子差速鎖 http://www.7835.com/b...2.電子柴油系統(tǒng)奔馳寶馬專業(yè)英語中英文對照EDS 電子柴油系統(tǒng)

eds english dialect society 英語方言學(xué)會【醫(yī)】[=edema disease of swine]豬的水腫病=electronic data switching 電子數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換; electronic data system 電子數(shù)據(jù)系統(tǒng); emergency detection system 緊急探測系統(tǒng); energy data system 能源數(shù)據(jù)系統(tǒng); english dialect society 英語方語言學(xué)會; environmental data service 環(huán)境資料局[美]; exchangeable disk storage 可變換磁盤存貯器

6，eds 能譜上活時間死時間是什么意思

隨便

定義：死時間=(輸入計數(shù)率-輸出計數(shù)率)/輸入計數(shù)率*100%1、死時間=0%時，輸入計數(shù)率=輸出計數(shù)率輸入輸出的關(guān)系曲線在線性線性區(qū)，只有在低輸入計數(shù)率時，一般小于2000cps，輸入輸出才相等。2、超過2000cps，輸出增長速度小于輸入增長速度，但還是上升的，一般商品化eds當(dāng)死時間達到30%左右，達到輸出峰值。3、輸入計數(shù)率進一步增加，輸出計數(shù)率開始下降，死時間快速惡化。直到輸出計數(shù)率=0cps,這時死時間=100%時，系統(tǒng)電器被鎖死，需要重新啟動。由以上規(guī)律可以找到降低死時間的方法：系統(tǒng)正常情況下。1、減低輸入計數(shù)率，可將死時間降低并調(diào)整到合適的位置，具體方法如下： 1.1、可降低探針電流（加大聚光鏡激勵，減小spotsize；更換小的物鏡光闌；降低電子槍亮度，都可實現(xiàn)降低探針束流，關(guān)鍵看具體需要）； 1.2、或者減小探測器幾何收集角度（加大探測器到樣品的距離）， 1.3、或者改變加速電壓，向有利于降低x射線產(chǎn)額的方向，或者改變wd（這個一般不足取）， 1.4、減小樣品臺傾斜角度，如果之前樣品臺向探測器方向傾斜，可以降低傾斜角度（x射線的空間分布一般以樣品表面法線方向呈余弦分布）。2、提高輸出計數(shù)率：在輸入計數(shù)率一定條件下，如果初期設(shè)置的處理時間較長，可以降低處理時間常數(shù)，也會降低死時間，但分辨率會降低。如果系統(tǒng)死時間異常增大可檢查：1、是否有外來光源進入探頭，如ccd紅外燈、真空規(guī)管、led等其他光源關(guān)閉。（額外增加了輸入計數(shù)率）。2．檢查電源接地情況是否良好，盡量使電鏡外殼、能譜儀控制器、和電源同地（干擾）。3．檢查能譜儀信號線是否和分子泵、變壓器等強磁場電場纏繞，這有可能引入噪聲（額外引入不正常信號，增加輸入計數(shù)率）。4．進行探測器校準。鑒別器零穩(wěn)5．檢查探測器窗口是否破裂，如破只能返修。