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基體效應(yīng)，為什么化合物分子量過小需要衍生化才可以被液質(zhì)檢測到

來源：整理時間：2023-08-22 10:01:11 編輯：智能門戶手機版

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1，為什么化合物分子量過小需要衍生化才可以被液質(zhì)檢測到
2，熒光壓片法為什么會出現(xiàn)顆粒效應(yīng)和基體效應(yīng)
3，什么是基體效應(yīng)
4，什么是基體效應(yīng)原子吸收光譜法測定鈣鎂主要有哪些物質(zhì)產(chǎn)生基體效
5，基體效應(yīng)的簡單介紹
6，什么是標準物質(zhì)工業(yè)分析中常用的標準物質(zhì)指哪些當(dāng)基體效應(yīng)顯

1，為什么化合物分子量過小需要衍生化才可以被液質(zhì)檢測到

何液質(zhì)聯(lián)用提高化合物響應(yīng)值1基體效應(yīng)源LC-MS基質(zhì)效應(yīng)現(xiàn)象初1993發(fā)現(xiàn)改變品基質(zhì)種類濃度待測物電噴霧化質(zhì)譜響應(yīng)值降低

任務(wù)占坑

為什么化合物分子量過小需要衍生化才可以被液質(zhì)檢測到

2，熒光壓片法為什么會出現(xiàn)顆粒效應(yīng)和基體效應(yīng)

可以消除基體干擾,但是光譜干擾和背景干擾不能消除,所以這種方法并不很好,尤其是干擾很大時

加少量氫化鈣并攪拌半小時除水。再加分餾柱常壓分餾（不要減壓分餾?。?，收集189℃穩(wěn)定沸點的餾分。大約收集約70%的餾分就可以了（不希望不純吧？那就別多收）。注意前面去掉約15%的餾分不要，后面留15%的底子不要蒸出來。試試，應(yīng)該可以的。

熒光壓片法為什么會出現(xiàn)顆粒效應(yīng)和基體效應(yīng)

3，什么是基體效應(yīng)

在進行x射線熒光法測量時，若被測對象是非單一成分時，例如有A、B兩種成分，當(dāng)A元素的特征x射線能量高于B元素的吸收限(或相反)時，則A元素的特征X射線也可以激發(fā)B元素，于是產(chǎn)生兩種影響：①使B元素的x射線照射量率比實際的增多——增強效應(yīng)；②A元素的特征x熒光照射量率削弱——吸收效應(yīng)。這兩組效應(yīng)是由物質(zhì)組分決定的，因此叫做基體效應(yīng)。由于基體效應(yīng)的影響，破壞了x射線熒光照射量率與含量問的線性關(guān)系，為此對非單一組分的測量對象必須考慮基體效應(yīng)問題。質(zhì)譜學(xué)上的基體效應(yīng)即非質(zhì)譜干擾，一般分為兩類：①高鹽溶液引起的物理效應(yīng)；②基體對分析物的抑制或增強效應(yīng)。ICP-MS分析時，一定要考慮基體效應(yīng)及其校正。

中文名稱：基體效應(yīng) 英文名稱：matrix effect 定義：二次離子質(zhì)譜法中，待分析離子信號受基體成分的影響。應(yīng)用學(xué)科：機械工程（一級學(xué)科）；分析儀器（二級學(xué)科）；質(zhì)譜儀器-質(zhì)譜儀器一般名詞（三級學(xué)科） http://baike.baidu.com/view/2721532.html?wtp=tt

什么是基體效應(yīng)

4，什么是基體效應(yīng)原子吸收光譜法測定鈣鎂主要有哪些物質(zhì)產(chǎn)生基體效

飛秒檢測發(fā)現(xiàn)基體效應(yīng)是指實際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統(tǒng)稱為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的（這個變化一是指元素的變化，二是指含量的變化），它直接影響待測元素的測定?；w效應(yīng)是個無法避免的客觀事實。鈣鎂常常受到其它堿金屬的電離干擾。待測元素與其它組分之間的化學(xué)作用引起的干擾效應(yīng)即為化學(xué)干擾。例如，待測元素與一些物質(zhì)形成高熔點、難揮發(fā)、難離解的化合物，導(dǎo)致吸光度下降，甚至使測定不能進行。化學(xué)干擾主要來自陽離子和陰離子干擾。陽離子往往在一定溫度下，生成難熔混晶體或形成難原子化的化合物（或氧化物）。如：Ti、Al、Si與Ca可能生成CaSiO3、CaTiO3、CaAlO3 等難熔融混晶體。B、Be、Cr、Fe、Mo、V、W和部分分稀土元素易與待測元素形成不易揮發(fā)的混合氧化物，使吸收值降低，產(chǎn)生負干擾。有些元素會產(chǎn)生增感效應(yīng)現(xiàn)象，例如Mn、Fe、Co、 Ni對Al、Cr有正干擾。陰離子的干擾比陽離子復(fù)雜得多，往往與待測元素生成難離解高熔點化合物，例如：磷酸根PO43—，SO42—與Ba生成Ba3(PO4)2, BaSO4。對被測元素干擾順序如下：P〇43—>scv- >cr >no3 - >cio3 - o陰陽離子的干擾，很大程度上與火焰的性質(zhì)和溫度有關(guān)，干擾的消除可利用溫度效應(yīng)。

額

5，基體效應(yīng)的簡單介紹

為了敘述方便，假設(shè)樣品中存在待測元素A，相鄰元素B、C和輕元素。B元素的原子序數(shù)比A元素的原子序數(shù)大一些，B元素能被放射源放出的射線所激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征X射線BK,BKX射線又能激發(fā)A元素；C元素的原子序數(shù)小于待測元素A的原子序數(shù)，且能被A元素特征X射線所激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X射線；輕元素的原子序數(shù)測距A、B、C元素的原子序數(shù)較遠，被激發(fā)的幾率很小，可以忽略不計，那么對待測元素A特征X射線強度的影響有以下幾個方面：1) 放射源放出的射線激發(fā)待測元素A，產(chǎn)生特征X射線AK線稱為光電效應(yīng)。2) AKX線在出射樣品時遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強度減小了，稱為吸收效應(yīng)。3) 放射源激發(fā)了B元素，BKX線又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線計數(shù)增加，稱為增強效應(yīng)，又稱為二次熒光。4) 放射源激發(fā)了元素C和元素B，使得激發(fā)元素A幾率減小。5) 放射源放出的射線與輕元素相互作用發(fā)生康普頓效應(yīng)，可能發(fā)生一次康普頓效應(yīng)也可能發(fā)生多次康普頓效應(yīng)，發(fā)生康普頓效率之后射線能量損失一部分在出射樣品路程中可能會激發(fā)元素A、B、C，也可能不發(fā)生作用，稱為康普頓效應(yīng)。以上只是描繪了一個簡單的圖象，實際上X射線的吸收、增強、散射過程要復(fù)雜得多。若待測元素與標準的基體成份不一致，必然會使分析結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。這就是吸收效應(yīng)、增強效應(yīng)、散射效應(yīng)影響，統(tǒng)稱為基體效應(yīng)。質(zhì)譜學(xué)上的基體效應(yīng)即非質(zhì)譜干擾，一般分為兩類：①高鹽溶液引起的物理效應(yīng)；②基體對分析物的抑制或增強效應(yīng)。ICP-MS分析時，一定要考慮基體效應(yīng)及其校正。

6，什么是標準物質(zhì)工業(yè)分析中常用的標準物質(zhì)指哪些當(dāng)基體效應(yīng)顯

標準物質(zhì)是指在組成和性質(zhì)上與待測樣品相似，含量已知，并且均勻穩(wěn)定的物質(zhì)。當(dāng)基體效應(yīng)顯著時，必須設(shè)法避免，解決基體效應(yīng)的最好辦法是采用標準物質(zhì)作分析測試的標準。

飛秒檢測發(fā)現(xiàn)基體效應(yīng)是指實際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統(tǒng)稱為基體。由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的（這個變化一是指元素的變化，二是指含量的變化），它直接影響待測元素的測定?；w效應(yīng)是個無法避免的客觀事實。鈣鎂常常受到其它堿金屬的電離干擾。待測元素與其它組分之間的化學(xué)作用引起的干擾效應(yīng)即為化學(xué)干擾。例如，待測元素與一些物質(zhì)形成高熔點、難揮發(fā)、難離解的化合物，導(dǎo)致吸光度下降，甚至使測定不能進行。化學(xué)干擾主要來自陽離子和陰離子干擾。陽離子往往在一定溫度下，生成難熔混晶體或形成難原子化的化合物（或氧化物）。如：ti、al、si與ca可能生成casio3、catio3、caalo3 等難熔融混晶體。b、be、cr、fe、mo、v、w和部分分稀土元素易與待測元素形成不易揮發(fā)的混合氧化物，使吸收值降低，產(chǎn)生負干擾。有些元素會產(chǎn)生增感效應(yīng)現(xiàn)象，例如mn、fe、co、 ni對al、cr有正干擾。陰離子的干擾比陽離子復(fù)雜得多，往往與待測元素生成難離解高熔點化合物，例如：磷酸根po43—，so42—與ba生成ba3(po4)2, baso4。對被測元素干擾順序如下：p〇43—>scv- >cr >no3 - >cio3 - o陰陽離子的干擾，很大程度上與火焰的性質(zhì)和溫度有關(guān)，干擾的消除可利用溫度效應(yīng)。