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1，jtag是個什么東西
2，JTAG是一種嵌入式系統(tǒng)中常用大數(shù)據(jù)傳輸接口不但可以傳輸信息還
3，Jtag是什么
4，什么是jtag及jtag接口簡介
5，JTAG接口的定義
6，JTAG 是什么意思啊哪位仁兄幫忙解答下

1，jtag是個什么東西

JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯(lián)合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充，形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于：電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。

jtag是個什么東西

2，JTAG是一種嵌入式系統(tǒng)中常用大數(shù)據(jù)傳輸接口不但可以傳輸信息還

不對。 JTAG主要是調(diào)試用的，主要用于芯片內(nèi)部測試下面是來自百度百科：通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于Debug，一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟件的配合，具體實現(xiàn)的功能則由具體的軟件決定。 JTAG(Joint Test Action Group ，聯(lián)合測試行動小組 ) 是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試， JTAG 技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯片內(nèi)部封裝了專門的測試電路 TAP （ Test Access Port ，測試訪問口），通過專用的 JTAG 測試工具對內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。

JTAG是一種嵌入式系統(tǒng)中常用大數(shù)據(jù)傳輸接口不但可以傳輸信息還

3，Jtag是什么

JTAG是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。相關(guān)JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式；TRST為測試復(fù)位，輸入引腳，低電平有效。

邊界掃描。用來對芯片進(jìn)行檢查和調(diào)試的一個接口。新型的芯片由于封裝形式的改變帶來引腳接觸不可測的問題，如球底的bga封裝，就是kingmax內(nèi)存條的那種芯片的樣子，如果里邊有虛焊也很難測出來，所以引入jtag用來自檢引腳的連接等信息，可以用來測試。后來發(fā)展到連同isp功能一起做在jtag上，現(xiàn)在jtag已經(jīng)成為全功能的檢查測試及調(diào)試接口了。使用jtag能做到所有的操作，包括燒片，除了燒熔絲操作，寫片機(jī)也省掉了。只需要一片74hc244

Jtag是什么

4，什么是jtag及jtag接口簡介

jtag(joint test action group)聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（ieee 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持jtag協(xié)議，如dsp、fpga器件等。標(biāo)準(zhǔn)的jtag接口是4線：tms、 tck、tdi、tdo，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 jtag最初是用來對芯片進(jìn)行測試的，基本原理是在器件內(nèi)部定義一個tap（test access port?測試訪問口）通過專用的jtag測試工具對進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。jtag測試允許多個器件通過jtag接口串聯(lián)在一起，形成一個jtag鏈，能實現(xiàn)對各個器件分別測試?，F(xiàn)在，jtag接口還常用于實現(xiàn)isp（in-system rogrammable?在線編程），對flash等器件進(jìn)行編程。 jtag編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預(yù)編程現(xiàn)再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用jtag編程，從而大大加快工程進(jìn)度。jtag接口可對psd芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程

5，JTAG接口的定義

JTAG(Joint Test Action Group ，聯(lián)合測試行動小組 ) 是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試， JTAG 技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯片內(nèi)部封裝了專門的測試電路 TAP （ Test Access Port ，測試訪問口），通過專用的 JTAG 測試工具對內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。如今大多數(shù)比較復(fù)雜的器件都支持 JTAG 協(xié)議，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。標(biāo)準(zhǔn)的 JTAG 接口是 4 線： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分別為測試模式選擇、測試時鐘、測試數(shù)據(jù)輸入和測試數(shù)據(jù)輸出。如今 JTAG 接口的連接有兩種標(biāo)準(zhǔn)，即 14 針接口和 20 針接口，其定義分別如下所示。 1 、 13 　 VCC 接電源2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 　 GND 接地3 　nTRST 　測試系統(tǒng)復(fù)位信號5 　TDI 　測試數(shù)據(jù)串行輸入7 　TMS 　測試模式選擇9 　TCK 　測試時鐘11　TDO 　測試數(shù)據(jù)串行輸出12　NC 　未連接 1　VTref 　目標(biāo)板參考電壓，接電源2 VCC 　接電源3 nTRST 　測試系統(tǒng)復(fù)位信號4、6、8、10、12、14、16、18、20 　GND 接地5 TDI 　測試數(shù)據(jù)串行輸入7 TMS 　測試模式選擇9 TCK 　測試時鐘11 RTCK 　測試時鐘返回信號13 TDO 　測試數(shù)據(jù)串行輸出15 nRESET 　目標(biāo)系統(tǒng)復(fù)位信號17 、 19 NC 　未連接仿真器端口 AVR端口備注1. TCK TCK2. NC NC3. TDO TDO4. Vtref VCC5. TMS TMS6. nSRST RESET7. NC / Vsupply NC / VCC JTAG ICE仿真器：VCC；JTAG ICE mkII仿真器：NC8. nTRST NC ATMEL尚且保留該端口，如今暫不使用它，未來可能會使用9. TDI TDI10.GND GND

6，JTAG 是什么意思啊哪位仁兄幫忙解答下

JTAG JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯(lián)合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充，形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于：電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在系統(tǒng)編程。JTAG也是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試。現(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。相關(guān)JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式；TRST為測試復(fù)位，輸入引腳，低電平有效。GNDTI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口，用來在引腳較少的芯片上通過最少的利用引腳實現(xiàn)JTAG接口，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實際使用時一般通過四條線連接，VCC，SBWTCK，SBTDIO，GND，這樣就可以很方便的實現(xiàn)連接，又不會占用大量引腳。JTAG最初是用來對芯片進(jìn)行測試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個TAP（Test Access Port測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起,形成一個JTAG鏈,能實現(xiàn)對各個器件分別測試?，F(xiàn)在，JTAG接口還常用于實現(xiàn)ISP（In-System Programmable;在線編程），對FLASH等器件進(jìn)行編程。JTAG編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預(yù)編程現(xiàn)再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程,從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對PSD芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程。在硬件結(jié)構(gòu)上，JTAG 接口包括兩部分：JTAG 端口和控制器。與JTAG 接口兼容的器件可以是微處理器（MPU）、微控制器（MCU）、PLD、CPL、FPGA、ASIC 或其它符合IEEE1149.1 規(guī)范的芯片。IEEE1149.1 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定對應(yīng)于數(shù)字集成電路芯片的每個引腳都設(shè)有一個移位寄存單元，稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG 電路與內(nèi)核邏輯電路聯(lián)系起來，同時隔離內(nèi)核邏輯電路和芯片引腳。由集成電路的所有邊界掃描單元構(gòu)成邊界掃描寄存器BSR。邊界掃描寄存器電路僅在進(jìn)行JTAG 測試時有效，在集成電路正常工作時無效，不影響集成電路的功能。JTAG的一些說明通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于Debug；一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟件的配合，具體實現(xiàn)的功能則由具體的軟件決定。例如下載程序到RAM功能。了解SOC的都知道，要使用外接的RAM，需要參照SOC DataSheet的寄存器說明，設(shè)置RAM的基地址，總線寬度，訪問速度等等。有的SOC則還需要Remap，才能正常工作。運(yùn)行Firmware時，這些設(shè)置由Firmware的初始化程序完成。但如果使用JTAG接口，相關(guān)的寄存器可能還處在上電值，甚至?xí)r錯誤值，RAM不能正常工作，所以下載必然要失敗。要正常使用，先要想辦法設(shè)置RAM。在ADW中，可以在Console窗口通過Let 命令設(shè)置，在AXD中可以在Console窗口通過Set命令設(shè)置。

主要用于邊界掃描測試?？梢杂?個端口模擬所有引腳的輸入輸出。如果是FPGA應(yīng)用，可用于下載和觀測內(nèi)部數(shù)據(jù)。XILINX和ALTERA的芯片都帶有這些管腳，用相應(yīng)的下載線，可以完成上述功能。（如有更詳細(xì)問題，可以下來聯(lián)系。）

JTAG(Joint Test Action Group)聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議，如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、 TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 JTAG最初是用來對芯片進(jìn)行測試的，基本原理是在器件內(nèi)部定義一個TAP（Test Access Port?測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起，形成一個JTAG鏈，能實現(xiàn)對各個器件分別測試?，F(xiàn)在，JTAG接口還常用于實現(xiàn)ISP（In-System rogrammable?在線編程），對FLASH等器件進(jìn)行編程。 JTAG編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預(yù)編程現(xiàn)再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對PSD芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程 JTAG的一些說明通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于Debug；一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟件的配合，具體實現(xiàn)的功能則由具體的軟件決定。例如下載程序到RAM功能。了解SOC的都知道，要使用外接的RAM，需要參照SOC DataSheet的寄存器說明，設(shè)置RAM的基地址，總線寬度，訪問速度等等。有的SOC則還需要Remap，才能正常工作。運(yùn)行Firmware時，這些設(shè)置由Firmware的初始化程序完成。但如果使用JTAG接口，相關(guān)的寄存器可能還處在上電值，甚至?xí)r錯誤值，RAM不能正常工作，所以下載必然要失敗。要正常使用，先要想辦法設(shè)置RAM。在ADW中，可以在Console窗口通過Let 命令設(shè)置，在AXD中可以在Console窗口通過Set命令設(shè)置。

才給5分，好少唉JTAG（Joint Text Action Group:聯(lián)合測試行動小組）是1985年制定的檢測PCB和IC芯片的一個標(biāo)準(zhǔn)，1990年被修改后成為IEEE的一個標(biāo)準(zhǔn)，即IEEE1149.1-1990。通過這個標(biāo)準(zhǔn)，可對具有JTAG接口的芯片的硬件電路進(jìn)行邊界掃描和故障檢測。具有JTAG接口的芯片，相關(guān)JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式；TRST為測試復(fù)位，輸入引腳，低電平有效。GND JTAG最初是用來對芯片進(jìn)行測試的，基本原理是在器件內(nèi)部定義一個TAP（Test Access Port?測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起，形成一個JTAG鏈，能實現(xiàn)對各個器件分別測試。現(xiàn)在，JTAG接口還常用于實現(xiàn)ISP（In-System rogrammable?在線編程），對FLASH等器件進(jìn)行編程。 JTAG編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預(yù)編程現(xiàn)再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對PSD芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程

就是調(diào)試和配置FPGA的端口

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4，什么是jtag及jtag接口簡介

5，JTAG接口的定義

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