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eds能譜分析，EDX和EDS的區(qū)別

來源：整理 時間：2023-08-31 11:52:47 編輯：智能門戶 手機(jī)版

本文目錄一覽

1，EDX和EDS的區(qū)別

　EDX是熒光分析.EDS是能譜分析.后者不是x射線能譜儀.如果想準(zhǔn)確定量.可以考慮化學(xué)分析.XPS.或者俄歇分析(AES).XPS和AES對表面含量較為適合.

EDX和EDS的區(qū)別

2，Na元素可以用EDS檢測嗎

1、EDS是針對一些元素的含量進(jìn)行測試，XRD是測試晶體結(jié)構(gòu)的。 2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。
或許可以。

Na元素可以用EDS檢測嗎

3，EDS能分析表面的元素組成嗎

X射線能量分散譜儀（簡稱能譜儀或EDS） 能譜儀可應(yīng)用于微區(qū)成分分析和樣品中元素的點分析、線分析、面分析。能譜儀與波譜儀類似，也有點分析、線分析、面分析三種分析方式，作用與波譜儀類似，但分析速度比波譜儀快的多，其缺點是其分辨率較波譜儀稍差，常有相鄰譜峰的重疊現(xiàn)象，使元素分析發(fā)生困難。

EDS能分析表面的元素組成嗎

4，什么是能譜分析儀

能譜分析儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡使用 各種元素具有自己X射線特征波長特征波長大小則取決于能級躍遷過程釋放出特征能量△E能譜分析儀利用同元素X射線光子特征能量同特點來進(jìn)行成分分析 探頭：般Si(Li)鋰硅半導(dǎo)體探頭 探測面積：幾平方毫米 分辨率（MnKa）：～133eV 探測元素范圍：Be4～U92

5，XRDIRSEMEDS及紫外可見吸收的測試原理及具體分析步驟

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以獲得材料的元素組成信息TEM：材料的表面形貌，結(jié)晶性。配合EDX可以獲得材料的元素組成FTIR：主要用于測試高分子有機(jī)材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結(jié)構(gòu)。如單鍵，雙鍵等等Raman：通過測定轉(zhuǎn)動能及和振動能及，用來測定材料的結(jié)構(gòu)。CV：CV曲線可以測試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導(dǎo)體行業(yè)可以得到直流偏壓EIS：EIS就是電化學(xué)交流阻抗譜測試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統(tǒng)內(nèi)在串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息BET：主要是測試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。XRD：主要是測試材料的物性，晶型的。高級的XRD還可以測試材料不同晶型的組分。質(zhì)譜：主要用于鑒定材料的化學(xué)成分，包括液相質(zhì)譜，氣象質(zhì)譜
1、eds是針對一些元素的含量進(jìn)行測試，xrd是測試晶體結(jié)構(gòu)的。2、eds (energy dispersive spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。在微米或納米尺度上對掃描電鏡或透射電鏡內(nèi)通過電子碰撞所產(chǎn)生的x射線的能量進(jìn)行測量來確定物質(zhì)化學(xué)成分。分析范圍：4-100號元素定性定量分析。 特點：（1）能快速、同時對各種試樣的微區(qū)內(nèi)be-u的所有元素，元素定性、定量分析，幾分鐘即可完成。（2）對試樣與探測器的幾何位置要求低：對w.d的要求不是很嚴(yán)格；可以在低倍率下獲得x射線掃描、面分布結(jié)果。（3）能譜所需探針電流?。簩﹄娮邮丈浜笠讚p傷的試樣，例如生物試樣、快離子導(dǎo)體試樣、玻璃等損傷小。（4）檢測限一般為0.1%－0.5%，中等原子序數(shù)的無重疊峰主元素的定量相誤差約為2%。3、xrd，x射線衍射是測定晶體結(jié)構(gòu)的。x射線衍射，通過對材料進(jìn)行x射線衍射，分析其衍射圖譜，分析材料的成分等。

6，EDS分析求助

1. 可以。無論是SEM還是TEM均可，只是多數(shù)情況下，EDS采用無標(biāo)樣定量，定量分析結(jié)果是半定量的，不能作為決斷性證據(jù)，而只能做其他表征手段的support information。分析方法很簡單，EDS能譜都有直接定量分析的功能，為了準(zhǔn)確，你可以多點分析（大于20個點），取平均值。2. 一個點的分析區(qū)域?qū)τ谕ǔ５腟EM區(qū)域是以電子束束斑為大小的圓斑，往下是一個梨形擴(kuò)展區(qū)，通常會有幾個立方微米的空間，但如果只是一個單分散的納米顆粒，下面沒有其他干擾，分析區(qū)域可以準(zhǔn)確到電子束斑大小。對于TEM，則和后面的那種情況相同。順便說一下：在EDS采集樣品信息時，一般建議用取點分析，而不是取框，因為如果不做設(shè)定，通常一個點的分析時間和一個框的總分析時間相同，那么一個框的分析時間平均到每個區(qū)域點，會使采樣時間極其短暫，從而影響定量結(jié)果的準(zhǔn)確性（信號量不足會影響少量元素組分的定量）。
1. 可以。無論是SEM還是TEM均可，只是多數(shù)情況下，EDS采用無標(biāo)樣定量，定量分析結(jié)果是半定量的，不能作為決斷性證據(jù)，而只能做其他表征手段的support information。分析方法很簡單，EDS能譜都有直接定量分析的功能，為了準(zhǔn)確，你可以多點分析（大于20個點），取平均值。2. 一個點的分析區(qū)域?qū)τ谕ǔ５腟EM區(qū)域是以電子束束斑為大小的圓斑，往下是一個梨形擴(kuò)展區(qū)，通常會有幾個立方微米的空間，但如果只是一個單分散的納米顆粒，下面沒有其他干擾，分析區(qū)域可以準(zhǔn)確到電子束斑大小。對于TEM，則和后面的那種情況相同。順便說一下：在EDS采集樣品信息時，一般建議用取點分析，而不是取框，因為如果不做設(shè)定，通常一個點的分析時間和一個框的總分析時間相同，那么一個框的分析時間平均到每個區(qū)域點，會使采樣時間極其短暫，從而影響定量結(jié)果的準(zhǔn)確性（信號量不足會影響少量元素組分的定量）。
EDS定量很不準(zhǔn)嗯，尤其是sem的eds樣品臺上東西太多了，都不知道是一次信號還是碰到其他元素又產(chǎn)生二次信號，TEM會好點，不過一般也沒拿這個當(dāng)含量說事的。。另外xps貌似定量也不咋準(zhǔn)，做過一個明明二價銅多，打出來居然信號一樣
EDS是定性的分析，其結(jié)果只能作為參考，取面分析相對來說更好一點，但是也不可以作為定量分析。至于取點測試時候的面積，這個不是太好確定，由設(shè)備覺得，也就是設(shè)備的電子束直徑
EDS一般不用于定量，多用于定性分析。因為定量分析需要校正設(shè)備的很多參數(shù)。一般說來，用XPS定量就比較準(zhǔn)確。
文章TAG：eds能譜分析EDX和EDS的區(qū)別

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