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eds能譜分析，EDX和EDS的區(qū)別

來源：整理時(shí)間：2023-08-31 11:52:47 編輯：智能門戶手機(jī)版

本文目錄一覽

1，EDX和EDS的區(qū)別
2，Na元素可以用EDS檢測(cè)嗎
3，EDS能分析表面的元素組成嗎
4，什么是能譜分析儀
5，XRDIRSEMEDS及紫外可見吸收的測(cè)試原理及具體分析步驟
6，EDS分析求助

1，EDX和EDS的區(qū)別

　EDX是熒光分析.EDS是能譜分析.后者不是x射線能譜儀.如果想準(zhǔn)確定量.可以考慮化學(xué)分析.XPS.或者俄歇分析(AES).XPS和AES對(duì)表面含量較為適合.

EDX和EDS的區(qū)別

2，Na元素可以用EDS檢測(cè)嗎

1、EDS是針對(duì)一些元素的含量進(jìn)行測(cè)試，XRD是測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的。 2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。

或許可以。

Na元素可以用EDS檢測(cè)嗎

3，EDS能分析表面的元素組成嗎

X射線能量分散譜儀（簡(jiǎn)稱能譜儀或EDS）能譜儀可應(yīng)用于微區(qū)成分分析和樣品中元素的點(diǎn)分析、線分析、面分析。能譜儀與波譜儀類似，也有點(diǎn)分析、線分析、面分析三種分析方式，作用與波譜儀類似，但分析速度比波譜儀快的多，其缺點(diǎn)是其分辨率較波譜儀稍差，常有相鄰譜峰的重疊現(xiàn)象，使元素分析發(fā)生困難。

EDS能分析表面的元素組成嗎

4，什么是能譜分析儀

能譜分析儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)用來對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量分析配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡使用各種元素具有自己X射線特征波長(zhǎng)特征波長(zhǎng)大小則取決于能級(jí)躍遷過程釋放出特征能量△E能譜分析儀利用同元素X射線光子特征能量同特點(diǎn)來進(jìn)行成分分析探頭：般Si(Li)鋰硅半導(dǎo)體探頭探測(cè)面積：幾平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV 探測(cè)元素范圍：Be4～U92

5，XRDIRSEMEDS及紫外可見吸收的測(cè)試原理及具體分析步驟

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以獲得材料的元素組成信息TEM：材料的表面形貌，結(jié)晶性。配合EDX可以獲得材料的元素組成FTIR：主要用于測(cè)試高分子有機(jī)材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結(jié)構(gòu)。如單鍵，雙鍵等等Raman：通過測(cè)定轉(zhuǎn)動(dòng)能及和振動(dòng)能及，用來測(cè)定材料的結(jié)構(gòu)。CV：CV曲線可以測(cè)試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導(dǎo)體行業(yè)可以得到直流偏壓EIS：EIS就是電化學(xué)交流阻抗譜測(cè)試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統(tǒng)內(nèi)在串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息BET：主要是測(cè)試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。XRD：主要是測(cè)試材料的物性，晶型的。高級(jí)的XRD還可以測(cè)試材料不同晶型的組分。質(zhì)譜：主要用于鑒定材料的化學(xué)成分，包括液相質(zhì)譜，氣象質(zhì)譜

1、eds是針對(duì)一些元素的含量進(jìn)行測(cè)試，xrd是測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的。2、eds (energy dispersive spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。在微米或納米尺度上對(duì)掃描電鏡或透射電鏡內(nèi)通過電子碰撞所產(chǎn)生的x射線的能量進(jìn)行測(cè)量來確定物質(zhì)化學(xué)成分。分析范圍：4-100號(hào)元素定性定量分析。特點(diǎn)：（1）能快速、同時(shí)對(duì)各種試樣的微區(qū)內(nèi)be-u的所有元素，元素定性、定量分析，幾分鐘即可完成。（2）對(duì)試樣與探測(cè)器的幾何位置要求低：對(duì)w.d的要求不是很嚴(yán)格；可以在低倍率下獲得x射線掃描、面分布結(jié)果。（3）能譜所需探針電流?。簩?duì)電子束照射后易損傷的試樣，例如生物試樣、快離子導(dǎo)體試樣、玻璃等損傷小。（4）檢測(cè)限一般為0.1%－0.5%，中等原子序數(shù)的無重疊峰主元素的定量相誤差約為2%。3、xrd，x射線衍射是測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)的。x射線衍射，通過對(duì)材料進(jìn)行x射線衍射，分析其衍射圖譜，分析材料的成分等。

6，EDS分析求助

1. 可以。無論是SEM還是TEM均可，只是多數(shù)情況下，EDS采用無標(biāo)樣定量，定量分析結(jié)果是半定量的，不能作為決斷性證據(jù)，而只能做其他表征手段的support information。分析方法很簡(jiǎn)單，EDS能譜都有直接定量分析的功能，為了準(zhǔn)確，你可以多點(diǎn)分析（大于20個(gè)點(diǎn)），取平均值。2. 一個(gè)點(diǎn)的分析區(qū)域?qū)τ谕ǔ５腟EM區(qū)域是以電子束束斑為大小的圓斑，往下是一個(gè)梨形擴(kuò)展區(qū)，通常會(huì)有幾個(gè)立方微米的空間，但如果只是一個(gè)單分散的納米顆粒，下面沒有其他干擾，分析區(qū)域可以準(zhǔn)確到電子束斑大小。對(duì)于TEM，則和后面的那種情況相同。順便說一下：在EDS采集樣品信息時(shí)，一般建議用取點(diǎn)分析，而不是取框，因?yàn)槿绻蛔鲈O(shè)定，通常一個(gè)點(diǎn)的分析時(shí)間和一個(gè)框的總分析時(shí)間相同，那么一個(gè)框的分析時(shí)間平均到每個(gè)區(qū)域點(diǎn)，會(huì)使采樣時(shí)間極其短暫，從而影響定量結(jié)果的準(zhǔn)確性（信號(hào)量不足會(huì)影響少量元素組分的定量）。

EDS定量很不準(zhǔn)嗯，尤其是sem的eds樣品臺(tái)上東西太多了，都不知道是一次信號(hào)還是碰到其他元素又產(chǎn)生二次信號(hào)，TEM會(huì)好點(diǎn)，不過一般也沒拿這個(gè)當(dāng)含量說事的。。另外xps貌似定量也不咋準(zhǔn)，做過一個(gè)明明二價(jià)銅多，打出來居然信號(hào)一樣

EDS是定性的分析，其結(jié)果只能作為參考，取面分析相對(duì)來說更好一點(diǎn)，但是也不可以作為定量分析。至于取點(diǎn)測(cè)試時(shí)候的面積，這個(gè)不是太好確定，由設(shè)備覺得，也就是設(shè)備的電子束直徑

EDS一般不用于定量，多用于定性分析。因?yàn)槎糠治鲂枰ＵO(shè)備的很多參數(shù)。一般說來，用XPS定量就比較準(zhǔn)確。