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光譜儀原理，院子吸收光譜儀的原理是什么

來源：整理 時(shí)間：2025-03-15 08:41:00 編輯：智能門戶 手機(jī)版

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1，院子吸收光譜儀的原理是什么

原子吸收光譜儀原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量.
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院子吸收光譜儀的原理是什么

2，原子熒光光譜儀的基本原理

原子熒光光譜法是通過測(cè)量待測(cè)元素的原子蒸氣在輻射能激發(fā)下產(chǎn)生的熒光發(fā)射強(qiáng)度，來確定待測(cè)元素含量的方法。氣態(tài)自由原子吸收特征波長(zhǎng)輻射后，原子的外層電子從基態(tài)或低能級(jí)躍遷到高能級(jí)經(jīng)過約10-8s，又躍遷至基態(tài)或低能級(jí)，同時(shí)發(fā)射出與原激發(fā)波長(zhǎng)相同或不同的輻射，稱為原子熒光。原子熒光分為共振熒光、直躍熒光、階躍熒光等。發(fā)射的熒光強(qiáng)度和原子化器中單位體積該元素基態(tài)原子數(shù)成正比，式中：I f為熒光強(qiáng)度；φ為熒光量子效率，表示單位時(shí)間內(nèi)發(fā)射熒光光子數(shù)與吸收激發(fā)光光子數(shù)的比值，一般小于1；Io為激發(fā)光強(qiáng)度；A為熒光照射在檢測(cè)器上的有效面積；L為吸收光程長(zhǎng)度；ε為峰值摩爾吸光系數(shù)；N為單位體積內(nèi)的基態(tài)原子數(shù)。原子熒光發(fā)射中，由于部分能量轉(zhuǎn)變成熱能或其他形式能量，使熒光強(qiáng)度減少甚至消失，該現(xiàn)象稱為熒光猝滅。

原子熒光光譜儀的基本原理

3，光譜儀的原理

根據(jù)現(xiàn)代光譜儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀.經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器.經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器.調(diào)制光譜儀是非空間分光的,它采用圓孔進(jìn)光.根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學(xué)多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測(cè)器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理, 存儲(chǔ)諸功能于一體.由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測(cè)量工作,使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率;使用OMA分析光譜,測(cè)量準(zhǔn)確迅速,方便,且靈敏度高,響應(yīng)時(shí)間快,光譜分辨率高,測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī),繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測(cè)量,分析及研究工作中,特別適應(yīng)于對(duì)微弱信號(hào),瞬變信號(hào)的檢測(cè).
光譜是復(fù)色光經(jīng)過色散系統(tǒng)（如棱鏡、光柵）分光后，被色散開的單色光按波長(zhǎng)（或頻率）大小而依次排列的圖案，全稱為光學(xué)頻譜。不同波長(zhǎng)的光具有不同的能量，波長(zhǎng)越短，能量越高。光譜儀則是將復(fù)色光分離成光譜的儀器。物質(zhì)吸收特定波段的光譜產(chǎn)生躍遷，就能獲得與物質(zhì)相關(guān)的信息。光譜儀有多種類型，按色散原理分類有棱鏡光譜儀、衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀。按儀器能夠正常工作的光譜范圍又能分為真空紫外（遠(yuǎn)紫外）光譜儀、紫外光譜儀、可見光譜儀、近紅外光譜儀、紅外光譜儀、遠(yuǎn)紅外光譜儀等。了解更多光譜儀：https://www.agilent.com.cn/zh-cn/product/molecular-spectroscopy/uv-vis-uv-vis-nir-spectroscopy

光譜儀的原理

4，原子吸收光譜儀的工作原理

原子吸收光譜分析原理　　原子吸收光譜分析的波長(zhǎng)區(qū)域在近紫外區(qū)。其分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過樣品a的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量，它符合郎珀-比爾定律　　A=-lgI/Io=-lgT=KCL　　式中I為透射光強(qiáng)度，I0為發(fā)射光強(qiáng)度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
基本原理：基態(tài)氣態(tài)原子可以吸收同種原子發(fā)出的光譜。具體是這樣的：光源（一般是空心陰極燈或無極放電燈）里有被測(cè)金屬，它被激發(fā)放出銳線光譜（就是一定波長(zhǎng)的不連續(xù)光譜）。而氣化池可以氣化（即原子化）被測(cè)金屬，原子金屬可以吸收空心陰極燈發(fā)出的銳線光譜，通過檢測(cè)被吸收后光譜的強(qiáng)度，得到被吸收的光譜強(qiáng)度，從而可以計(jì)算出金屬原子的濃度（比爾-朗伯定律）。不知道你能看懂嗎？不懂再問啊，呵呵
AAS 是一種用于確定樣品中某些元素含量的分析技術(shù)。它利用原子（和離子）可以在特定、獨(dú)特的波長(zhǎng)下吸收光的原理。當(dāng)提供這種特定波長(zhǎng)的光時(shí)，能量（光）被原子吸收。原子中的電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)。對(duì)吸收光的量進(jìn)行測(cè)量，可計(jì)算樣品中元素的濃度。通過吸收特定波長(zhǎng)的能量（光），電子從基態(tài)被激發(fā)到更高的能級(jí)。在原子吸收光譜中，吸收光的波長(zhǎng)是由原子的類型（屬于哪種元素）和電子移動(dòng)的能級(jí)決定。而吸收光的多少取決于樣品中元素的濃度。了解更多AAS信息：https://www.agilent.com.cn/zh-cn/product/atomic-spectroscopy/atomic-absorption
原子吸收光譜儀 基本原理：儀器從光源輻射出具有待測(cè)元素特征譜線的光，通過試樣蒸氣時(shí)被蒸氣中待測(cè)原素基態(tài)原子所吸收，由輻射特征譜線光被減弱的程度來測(cè)定試樣中待測(cè)原素的含量。 用 途： 原子吸收光譜儀可測(cè)定多種元素，火焰原子吸收光譜法可測(cè)到10-9g/ml數(shù)量級(jí)，石墨爐原子吸收法可測(cè)到10-13g/ml數(shù)量級(jí)。其氫化物發(fā)生器可對(duì)八種揮發(fā)性原素汞、砷、鉛、硒、錫、碲、銻、鍺等進(jìn)行微痕量測(cè)定。 因原子吸收光譜儀的靈敏、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，現(xiàn)已廣泛用于冶金、地質(zhì)、采礦、石油、輕工、農(nóng)業(yè)、醫(yī)藥、衛(wèi)生、食品及環(huán)境監(jiān)測(cè)等方面的常量及微痕量原素分析。

5，X射線熒光光譜儀分析原理

X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放產(chǎn)生二次X射線（即X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線（X熒光）具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線（X熒光）的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。 測(cè)出X熒光射線的波長(zhǎng)或者能量,就可以知道元素的種類，這就是X熒光射線定性分析的基礎(chǔ)。 此外,X熒光射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。
原子在收到電子束后者X射線的激發(fā)后，原子外層的電子會(huì)產(chǎn)生熒光光譜，一般是nm級(jí)別的。然后就是棱鏡分光，檢測(cè)器接受，根據(jù)接受信號(hào)強(qiáng)弱，分析含量。
x射線光電子能譜分析 x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組首次觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。 xps的主要特點(diǎn)是它能在不太高的真空度下進(jìn)行表面分析研究，這是其它方法都做不到的。當(dāng)用電子束激發(fā)時(shí)，如用aes法，必須使用超高真空，以防止樣品上形成碳的沉積物而掩蓋被測(cè)表面。x射線比較柔和的特性使我們有可能在中等真空程度下對(duì)表面觀察若干小時(shí)而不會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。此外，化學(xué)位移效應(yīng)也是xps法不同于其它方法的另一特點(diǎn)，即采用直觀的化學(xué)認(rèn)識(shí)即可解釋xps中的化學(xué)位移，相比之下，在aes中解釋起來就困難的多。 1 基本原理 用x射線照射固體時(shí)，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級(jí)的電子被擊出物體之外，此電子稱為光電子。 如果x射線光子的能量為hν，電子在該能級(jí)上的結(jié)合能為eb，射出固體后的動(dòng)能為ec，則它們之間的關(guān)系為： hν=eb+ec+ws 式中ws為功函數(shù)，它表示固體中的束縛電子除克服各別原子核對(duì)它的吸引外，還必須克服整個(gè)晶體對(duì)它的吸引才能逸出樣品表面，即電子逸出表面所做的功。上式可另表示為： eb＝hν-ec-ws 可見，當(dāng)入射x射線能量一定后，若測(cè)出功函數(shù)和電子的動(dòng)能，即可求出電子的結(jié)合能。由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測(cè)得的電子結(jié)合能必然反應(yīng)了表面化學(xué)成份的情況。這正是光電子能譜儀的基本測(cè)試原理。

6，直讀光譜儀的原理是什么

有些企業(yè)朋友在采購(gòu)儀器這些都很喜歡，研究一下相關(guān)的知識(shí)，便于后期采購(gòu)使用。所以在采購(gòu)光譜儀時(shí)也是如此，希望了解一下光譜儀原理，這樣在采購(gòu)時(shí)就知道哪些地方需要注意。其實(shí)光譜儀原理非常簡(jiǎn)單。光譜儀是一種利用激發(fā)后反饋的折射光，經(jīng)過內(nèi)部核心裝置光柵進(jìn)行光線處理，再經(jīng)過內(nèi)部的傳感器對(duì)光線進(jìn)行處理，最后將得到的數(shù)據(jù)通過電腦軟件顯示給操作人員。這就是光譜原理的大致過程。由以上檢測(cè)原理可知，無論進(jìn)行分光的光柵，還是對(duì)光線感光檢測(cè)處理的傳感器，對(duì)于精密鑄造光譜分析儀來說都是非常重要的核心部件，所以企業(yè)在采購(gòu)精密鑄造光譜分析儀時(shí)，可以格外關(guān)注這兩個(gè)部件的質(zhì)量如何，這樣采購(gòu)的光譜儀質(zhì)量才會(huì)更好。
光電直讀光譜分析時(shí)，電極架激發(fā)區(qū)域充氬氣，使樣品在控制氣氛下激發(fā)。在使用氬控制氣氛以后，試樣的激發(fā)在惰性氣體保護(hù)下進(jìn)行，可以減少合金元素對(duì)氧親和力作用的影響；同時(shí)還可以驅(qū)盡試樣激發(fā)時(shí)釋放出的氧、氮和水分子氣體，使光譜線強(qiáng)度更加穩(wěn)定。另外在氬氣的氣氛下激發(fā)，電離比較容易。對(duì)提高離子線的強(qiáng)度更加有利。在氬氣氛中激發(fā)和在空氣中激發(fā)不同，激發(fā)時(shí)生成激發(fā)斑點(diǎn)不同，產(chǎn)生兩種不同的放電即凝聚放電和擴(kuò)散放電。形式不同，分析準(zhǔn)確度不同。這兩種放電在間隙中釋放出的能量相同、凝聚放電形式的樣品蒸發(fā)較烈，放電集中在樣品的較小面積上，而擴(kuò)散放電形式樣品的蒸發(fā)不烈。凝聚放電在陰極處的放電電流密度大。以上兩種放電所得分析結(jié)果差別很大。氬氣的純度和流量、光源的參數(shù)，鋼中一些元素的含量高低都是產(chǎn)生不同放電形式的原因。樣品表面有氣孔、夾雜、油污、殘余水份都會(huì)引起擴(kuò)散放電。氬氣純度不夠或未經(jīng)氬氣凈化處理引起的擴(kuò)散放電。澆鑄狀態(tài)的鋼樣比鍛軋狀態(tài)的鋼樣更易引起擴(kuò)散放電。樣品中如含有易氧化的元素如硅、鋁、碳、鉻等含量高時(shí)生成穩(wěn)定化合物，往往導(dǎo)致擴(kuò)散放電。引起擴(kuò)散放電的原因是由于含有一定數(shù)量的氧。光電直讀光譜分析，用的是低壓火花，放電是單向的。由于單向，上下電極有極性，采用樣品接負(fù)，輔助電極接正，這樣對(duì)樣品激發(fā)，具有電侵蝕作用。所謂侵蝕，指金屬樣品在光源的作用下，其表面物質(zhì)的損失、樣品侵蝕厲害，則進(jìn)入分析間隙的物質(zhì)量多。物質(zhì)的侵蝕取訣于放電電流密度和放電時(shí)間的長(zhǎng)短。在單向放電下，陰極上的電侵蝕要比陽(yáng)極上快許多倍。我們利用這電侵蝕現(xiàn)象使分析樣品有較大的蒸發(fā)速度進(jìn)入分析間隙。而使輔助電極在激發(fā)過程中很少消耗，這種單向電侵蝕的產(chǎn)生主要是在脈沖放電作用下，離子轟擊樣品所致。
直讀光譜儀是比較舊式的光譜儀來講的，即測(cè)量結(jié)果以數(shù)字顯示的方式顯示結(jié)果，計(jì)算工作由計(jì)算機(jī)來完成的。智能程度有很大提高。先看老式的原理，經(jīng)高溫（一般電弧式）激發(fā)時(shí)原子產(chǎn)生特征譜線，經(jīng)光柵分光后將譜線感光照相來完成后續(xù)的黑度測(cè)量，效率低，成本高。直讀式是采用大規(guī)模集成的光電器件（CCD）采集信號(hào)，由計(jì)算機(jī)完成運(yùn)算的數(shù)字顯示測(cè)量結(jié)果。效率高，成本低。被廣泛的采用。
說的是同一類儀器， 光電的意思其實(shí)是通過光電轉(zhuǎn)換的原理采集每個(gè)元素所發(fā)出的不同譜線，根據(jù)強(qiáng)度及波長(zhǎng)確定含量的元素性質(zhì)。 火花的意思是從對(duì)激發(fā)來考慮的，要分析各個(gè)元素的譜線，那么譜線哪里產(chǎn)生呢，就是通過電火花對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)才產(chǎn)生，因?yàn)槟芰寇S遷的原理，每個(gè)元素才會(huì)發(fā)出相對(duì)應(yīng)的譜線。gnr公司新推出一款cmos檢測(cè)器，具備光電管與ccd的全部?jī)?yōu)點(diǎn)。
首先我們先看下直讀光譜儀基本原理：金屬試樣與電極之間進(jìn)行電弧。由于被測(cè)分析試樣激發(fā)后產(chǎn)生的光通過聚光透鏡由入口狹縫進(jìn)入，導(dǎo)向凹面衍射光柵上，只讀取在凹面光柵上分光的光中所需的光譜線，使用儀器上的光電倍增管或CCD將光轉(zhuǎn)化成電流。由此產(chǎn)生的光譜進(jìn)行光電測(cè)定，進(jìn)行需測(cè)元素的定量方法。由此看出， 直讀光譜儀被測(cè)樣在規(guī)定條件內(nèi)可一次性快速檢測(cè)出欲知的所有元素百分比含量，而且通過可靠可控的物理方法（光電轉(zhuǎn)換）實(shí)行快速、精準(zhǔn)之亮點(diǎn)！適用于較寬的波長(zhǎng)范圍；光電倍增管對(duì)信號(hào)放大能力強(qiáng)，對(duì)強(qiáng)弱不同譜線可用不同的放大倍率，相差可達(dá)10000倍，因此它可用同一分析條件對(duì)樣品中多種含量 范圍差別很大的元素同時(shí)進(jìn)行分析；線性范圍寬，更可做高含量分析，所以檢測(cè)范圍寬廣。相對(duì)于傳統(tǒng)分析法而言，直讀光譜儀測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、高效。該方法可以直接固體進(jìn)樣，不用進(jìn)行化學(xué)消解，可以減少消解過程以及定容過程所帶來的人為誤差； 智能軟件可實(shí)行“傻瓜式”的人性化操作，儀器校準(zhǔn)、曲線標(biāo)定、標(biāo)準(zhǔn)化、數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、材質(zhì)分類等功能強(qiáng)大
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