BSDL，Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL

來(lái)源：整理時(shí)間：2023-08-31 19:07:10 編輯：智能門戶手機(jī)版

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1，Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL
2，the idcode read from the device does not match the idcode in the bsdl
3，怎樣使用JTAG接口測(cè)試IC是否正常
4，ict的BoundaryScan邊界掃描技術(shù)
5，編程Quartus ii出錯(cuò) 求大神解決
6，緊急求助ICT在線測(cè)試原理

1，Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL

破解完成軟件以后，以管理員的權(quán)限運(yùn)行DXP，退出時(shí)問(wèn)題完美解決

重裝吧，具體什么原因不清楚

Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL

2，the idcode read from the device does not match the idcode in the bsdl

從設(shè)備讀出的id編碼和bsdl文件夾里面的id編碼不一樣

the idcode read from the device does not match the idcode in the bsdl file 設(shè)備上所讀出的身份代碼與 bsdl文件上的身份代碼不匹配

感覺(jué)像是進(jìn)入了JTAG模式，檢查JTAG信號(hào)的上下拉電阻

the idcode read from the device does not match the idcode in the bsdl

3，怎樣使用JTAG接口測(cè)試IC是否正常

用JTAG接口的確可以測(cè)試掃描鏈中的IC是否正常，但是很可惜一般來(lái)說(shuō)你不會(huì)具備對(duì)應(yīng)的條件，因?yàn)槭褂肑TAG接口進(jìn)行測(cè)試除了需要JTAG控制卡以外，更重要的是還需要使用電路板網(wǎng)表文件、各個(gè)芯片BSDL文件、測(cè)試模式控制進(jìn)入方式等設(shè)計(jì)文件生成的測(cè)試向量才可以進(jìn)行，否則連測(cè)試模式都進(jìn)入不了。

你好！JTAG是可以作為調(diào)試接口使用的，但是需要仿真器（下載器）。如果想知道IC哪里燒壞了，需要修改程序，看哪項(xiàng)功能實(shí)現(xiàn)不了，就是哪部分燒壞了。另外，CPU燒壞掉你是修不好的，直接換芯片！希望對(duì)你有所幫助，望采納。

怎樣使用JTAG接口測(cè)試IC是否正常

4，ict的BoundaryScan邊界掃描技術(shù)

ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來(lái)越強(qiáng)，封裝越來(lái)越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難，開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；最后提出了邊界掃描語(yǔ)言（Boundary Scan Description Language），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)。將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問(wèn)代替實(shí)際物理訪問(wèn)，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，最經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是它提供了一種簡(jiǎn)單而且快捷地產(chǎn)生測(cè)試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復(fù)雜測(cè)試庫(kù)的困難。用TAP訪問(wèn)口還可實(shí)現(xiàn)對(duì)如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。

5，編程Quartus ii出錯(cuò) 求大神解決

這個(gè)是你沒(méi)有正確的license即你的quartus沒(méi)有破解成功。1.下載對(duì)應(yīng)版本的crack破解程序，有時(shí)候破解程序和自己使用的quartus的版本不對(duì)應(yīng)可能導(dǎo)致破解不成功2.正確的破解步驟。其實(shí)步驟都是固定的，步驟也會(huì)在破解文件的說(shuō)明中給出?；揪褪谴蜷_(kāi)crack文件，破解bin文件夾下面的dll后生成破解的license，然后用自己的mac地址也就是物理網(wǎng)口地址替換里面的xxxxxxx。保存之后，然后在quartus的license setup中指定license路徑就可以了3.破解成功后，可以在quartus-tool-license setup中可以看到host ID 有正確的NIC ID值出現(xiàn)。4.這里給出常規(guī)破解步驟：說(shuō)明：quartus版本 9.0#首先安裝Quartus II 9.0 (32-Bit)：#用Quartus_II_9.0破解器.exe破解C:\altera\90\quartus\bin下的sys_cpt.dll和quartus.exe文件（運(yùn)行Quartus_II_9.0破解器.exe后,直接點(diǎn)擊“應(yīng)用補(bǔ)丁”，如果出現(xiàn)“未找到該文件。搜索該文件嗎？”，點(diǎn)擊“是”，（如果直接把該破解器Copy到C:\altera\90\quartus\bin下，就不會(huì)出現(xiàn)這個(gè)對(duì)話框，而是直接開(kāi)始破解！）然后選中sys_cpt.dll，點(diǎn)擊“打開(kāi)”。安裝默認(rèn)的sys_cpt.dll路徑是在C:\altera\90\quartus\bin下）。#把license.dat里的XXXXXXXXXXXX 用您老的網(wǎng)卡號(hào)替換(在Quartus II 9.0的Tools菜單下選擇License Setup，下面就有NIC ID)。#在Quartus II 9.0的Tools菜單下選擇License Setup，然后選擇License file，最后點(diǎn)擊OK。#注意：license文件存放的路徑名稱不能包含漢字和空格，空格可以用下劃線代替。#僅限于學(xué)習(xí),不要用于商業(yè)目的! 嚴(yán)禁貼到網(wǎng)上?。?！#為了防止不合格的破解流行，影響客戶的正常使用，我們?cè)趩?dòng)畫(huà)面中加入了“Altera中國(guó)區(qū)代理――駿龍科技有限公司”的防偽字樣，客戶啟動(dòng)時(shí)可以看到這行漢字。

用文本文件方式打開(kāi)你根目錄的 license...把里面的網(wǎng)卡代碼全部更換為你的網(wǎng)卡代碼.. 再錄入到軟件里面..

我想知道你這問(wèn)題最后是怎么解決的我也出現(xiàn)同樣錯(cuò)誤了error (23035): tcl error: bad option "d:/program": must be -encoding while executing"source d:/program files/altera/quartus ii/quartus/common/tcl/internal/eda_bsd/bsdl_main.tcl"error (199058): fail to evaluate tcl command source d:/program files/altera/quartus ii/quartus/common/tcl/internal/eda_bsd/bsdl_main.tcl

6，緊急求助ICT在線測(cè)試原理

ICT，In-Circuit Test，通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。

自己看吧~!!ict在線測(cè)試原理摘要：本文介紹在線測(cè)試的基本知識(shí)和基本原理。1慨述1.1定義在線測(cè)試，ict，in-circuittest，是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。飛針ict基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試，優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具，程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。針床式ict可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，但對(duì)每種單板需制作專用的針床夾具，夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)。1.2ict的范圍及特點(diǎn)檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等ic。它通過(guò)直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，pcb短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。1。3意義在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中第一道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ict測(cè)試過(guò)的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。ict測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法1.1模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“a”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵ix=iref∴rx=vs/v0*rrefvs、rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出v0，則rx可求出。若待測(cè)rx為電容、電感，則vs交流信號(hào)源，rx為阻抗形式，同樣可求出c或l。1.2隔離（guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)獨(dú)立的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因r1、r2的連接分流，使ix笽ref，rx=vs/v0*rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使g與f點(diǎn)同電位，r2中無(wú)電流流過(guò)，仍然有ix=iref，rx的等式不變。將g點(diǎn)接地，因f點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)，通過(guò)一個(gè)隔離運(yùn)算放大器使g與f等電位。ict測(cè)試儀可提供很多個(gè)隔離點(diǎn)，消除外圍電路對(duì)測(cè)試的影響。1.2ic的測(cè)試對(duì)數(shù)字ic，采用vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬ic的測(cè)試，可根據(jù)ic實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。2非向量測(cè)試隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫器件的向量測(cè)試程序常?；ㄙM(fèi)大量的時(shí)間，如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。smt器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開(kāi)路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，teradyne推出multiscan；genrad推出的xpress非向量測(cè)試技術(shù)。2.1deltascan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù)deltascan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的獨(dú)立引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。當(dāng)某塊板的電源被切斷后，器件上任何兩個(gè)管腳的等效電路如下圖中所示。1在管腳a加一對(duì)地的負(fù)電壓，電流ia流過(guò)管腳a之正向偏壓二極管。測(cè)量流過(guò)管腳a的電流ia。2保持管腳a的電壓，在管腳b加一較高負(fù)電壓，電流ib流過(guò)管腳b之正向偏壓二極管。由于從管腳a和管腳b至接地之共同基片電阻內(nèi)的電流分享，電流ia會(huì)減少。3再次測(cè)量流過(guò)管腳a的電流ia。如果當(dāng)電壓被加到管腳b時(shí)ia沒(méi)有變化（delta），則一定存在連接問(wèn)題。deltascan軟件綜合從該器件上許多可能的管腳對(duì)得到的測(cè)試結(jié)果，從而得出精確的故障診斷。信號(hào)管腳、電源和接地管腳、基片都參與deltascan測(cè)試，這就意味著除管腳脫開(kāi)之外，deltascan也可以檢測(cè)出器件缺失、插反、焊線脫開(kāi)等制造故障。genrad類式的測(cè)試稱junctionxpress。其同樣利用ic內(nèi)的二極管特性，只是測(cè)試是通過(guò)測(cè)量二極管的頻譜特性（二次諧波）來(lái)實(shí)現(xiàn)的。deltascan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。2.2framescan電容藕合測(cè)試framescan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（atb）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4atb測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開(kāi)，則不會(huì)有信號(hào)。genrad類式的技術(shù)稱openxpress。原理類似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測(cè)試成本稍高。3boundary-scan邊界掃描技術(shù)ict測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來(lái)越強(qiáng)，封裝越來(lái)越小，smt元件的增多，多層板的使用，pcb板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難，開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（jtag）頒布了ieee1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ieee1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口（tap）的四（五〕個(gè)管腳：tdi、tdo、tck、tms，（trst）。測(cè)試方式選擇（tms）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由tap控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（extest）、內(nèi)測(cè)試（intest）、運(yùn)行測(cè)試（runtest）；最后提出了邊界掃描語(yǔ)言（boundaryscandescriptionlanguage），bsdl語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了tap的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（ssr）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)。將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)他們的tap連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加tap信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問(wèn)代替實(shí)際物理訪問(wèn)，去掉大量的占用pcb板空間的測(cè)試焊盤，減少了pcb和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)pcb板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，最經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是它提供了一種簡(jiǎn)單而且快捷地產(chǎn)生測(cè)試圖形的方法，利用軟件工具可以將bsdl文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試圖形，如teradyne的victory，genrad的basicscan和scanpathfinder。解決編寫復(fù)雜測(cè)試庫(kù)的困難。用tap訪問(wèn)口還可實(shí)現(xiàn)對(duì)如cpld、fpga、flashmemroy的在線編程（in-systemprogram或onboardprogram）。4nand-treenand-tree是inter公司發(fā)明的一種可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)。在我司產(chǎn)品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設(shè)計(jì)。描述其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的有一一般程*.tr2的文件，我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量。ict測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和pcb設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對(duì)邊界掃描、nand-tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求

ICT在線測(cè)試儀原理摘要：1 慨述 1.1 定義 ICT在線測(cè)試儀，ICT，In-Circuit Test 百度已經(jīng)提示"輸入內(nèi)容已經(jīng)達(dá)到長(zhǎng)度限制"更多資料請(qǐng)看參考資料。

你在這里搜一下應(yīng)該有你要的答案：http://www.baidu.com/s?bs=%CE%DF%BA%FE%CA%D0%BF%AA%B9%D8%B5%E7%D4%B4%B9%AB%CB%BE&f=8&wd=ICT%D4%DA%CF%DF%B2%E2%CA%D4%D4%AD%C0%ED&n=2

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BSDL，Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL

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1，Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL

2，the idcode read from the device does not match the idcode in the bsdl

3，怎樣使用JTAG接口測(cè)試IC是否正常

4，ict的BoundaryScan邊界掃描技術(shù)

5，編程Quartus ii出錯(cuò) 求大神解決

6，緊急求助ICT在線測(cè)試原理

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BSDL，Cannot create file DProgram Filesaltiumad 11LibraryBSDL

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3，怎樣使用JTAG接口測(cè)試IC是否正常

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