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掃描鏈，掃描二維碼鏈接失敗怎么辦

來(lái)源：整理 時(shí)間：2024-12-10 01:46:35 編輯：智能門(mén)戶(hù) 手機(jī)版

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1，掃描二維碼鏈接失敗怎么辦

重新鏈接裝系統(tǒng),下載重裝二維碼
重新掃描一次 對(duì)準(zhǔn)左右下的三個(gè)點(diǎn) 如果還是不行說(shuō)明 這個(gè)二維碼制作有誤

掃描二維碼鏈接失敗怎么辦

2，請(qǐng)教synopsys中插入掃描鏈

你好，兩條掃描鏈不要在RTL里做，用DC自動(dòng)插入就可以，要增加6個(gè)端口，兩個(gè)si，兩個(gè)so，一個(gè)scan_enable，一個(gè)test_mode。
雖然我很聰明，但這么說(shuō)真的難到我了

請(qǐng)教synopsys中插入掃描鏈

3，F(xiàn)PGA上電后晶振工作嗎

下載不了程序，可以肯定不是晶振的問(wèn)題。至于出始化掃描鏈出錯(cuò)，原因是多方面的，你可以從以下幾點(diǎn)嘗試下：1、檢查FPGA的電壓是否正常，主要是VccAux和VccInt2、檢查JTAG的線序有無(wú)出錯(cuò)3、檢查JTAG的連線是否可靠
可以，不過(guò)需要你的示波器的帶寬比晶振頻率高至少兩倍以上才能準(zhǔn)確還原信號(hào)的頻率特性
FPGA下載不了的原因真的很多，調(diào)過(guò)的表示很頭痛
工作的，大概是2點(diǎn)多付吧，你要測(cè)晶振的話最好是示波器看看。不過(guò)下載程序也不一定是晶振的。因?yàn)檫€有很多問(wèn)題的。比如接口是不是松了，或者什么的

FPGA上電后晶振工作嗎

4，邊界掃描的邊界掃描原理

IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個(gè)四線串行接口（第五條線是可選的），該接口稱(chēng)作測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP），用于訪問(wèn)復(fù)雜的集成電路（IC），例如微處理器、DSP、ASIC和CPLD。除了TAP之外，混合IC也包含移位寄存器和狀態(tài)機(jī)，以執(zhí)行邊界掃描功能。在TDI（測(cè)試數(shù)據(jù)輸入）引線上輸入到芯片中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在指令寄存器中或一個(gè)數(shù)據(jù)寄存器中。串行數(shù)據(jù)從TDO（測(cè)試數(shù)據(jù)輸出）引線上離開(kāi)芯片。邊界掃描邏輯由TCK（測(cè)試時(shí)鐘）上的信號(hào)計(jì)時(shí)，而且TMS（測(cè)試模式選擇）信號(hào)驅(qū)動(dòng)TAP控制器的狀態(tài)。TRST（測(cè)試重置）是可選項(xiàng)。在PCB上可串行互連多個(gè)可兼容掃描功能的IC，形成一個(gè)或多個(gè)掃描鏈，每一個(gè)鏈都由其自己的TAP。每一個(gè)掃描鏈提供電氣訪問(wèn)，從串行TAP接口到作為鏈的一部分的每一個(gè)IC上的每一個(gè)引線。在正常的操作過(guò)程中，IC執(zhí)行其預(yù)定功能，就好像邊界掃描電路不存在。但是，當(dāng)為了進(jìn)行測(cè)試或在系統(tǒng)編程而激活設(shè)備的掃描邏輯時(shí)，數(shù)據(jù)可以傳送到IC中，并且使用串行接口從IC中讀取出來(lái)。這樣數(shù)據(jù)可以用來(lái)激活設(shè)備核心，將信號(hào)從設(shè)備引線發(fā)送到PCB上，讀出PCB的輸入引線并讀出設(shè)備輸出。

5，JTAG是什么是協(xié)議還是標(biāo)準(zhǔn)是測(cè)試方式還是應(yīng)用方式

JTAG，它是Joint Test Action Group縮寫(xiě)，是IEEE的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，ARM7TDMI內(nèi)部提供了3個(gè)JTAG型的掃描鏈，可以進(jìn)行調(diào)試和配置嵌入式的ICE-RT邏輯。 JTAG仿真器也稱(chēng)為JTAG調(diào)試器，是通過(guò)ARM芯片上的JTAG邊界掃描口進(jìn)行調(diào)試的設(shè)備。JTAG仿真器比較便宜，連接比較方便。它可以通過(guò)現(xiàn)有的JTAG邊界掃描與ARM CPU核進(jìn)行通信，屬于完全非插入式調(diào)試。它無(wú)需目標(biāo)存儲(chǔ)器，不占用目標(biāo)系統(tǒng)的任何端口。 JTAG (Joint Test Action Group)是1985年制定的檢測(cè)PCB和IC芯片的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，1990年被修改后成為IEEE的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，即IEEE1149.1-1990。通過(guò)這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，可對(duì)具有JTAG接口的芯片的硬件電路進(jìn)行邊界掃描和故障檢測(cè)。具有JTAG接口的芯片,相關(guān)JTAG引腳的定義為:TCK為測(cè)試時(shí)鐘輸入；TDI為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過(guò)TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測(cè)試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過(guò)TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測(cè)試模式選擇，TMS用來(lái)設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測(cè)試模式；TRST為測(cè)試復(fù)位，輸入引腳，低電平有效。

6，什么是邊界掃描技術(shù)

邊掃描測(cè)試是在20世紀(jì)80年代中期做為解決PCB物理訪問(wèn)問(wèn)題的JTAG接口發(fā)展起來(lái)的，這樣的問(wèn)題是新的封裝技術(shù)導(dǎo)致電路板裝配日益擁擠所產(chǎn)生的。邊界掃描在芯片級(jí)層次上嵌入測(cè)試電路，以形成全面的電路板級(jí)測(cè)試協(xié)議。利用邊界掃描－－自1990年以來(lái)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.1－－您甚至能夠?qū)ψ顝?fù)雜的裝配進(jìn)行測(cè)試、調(diào)試和在系統(tǒng)設(shè)備編程，并且診斷出硬件問(wèn)題?！　∵吔鐠呙璧膬?yōu)先：　　通過(guò)提供對(duì)掃描鏈的IO的訪問(wèn)，可以消除或極大地減少對(duì)電路板上物理測(cè)試點(diǎn)的需要，這就會(huì)顯著節(jié)約成本，因?yàn)殡娐钒宀季指?jiǎn)單、測(cè)試夾具更廉價(jià)、電路中的測(cè)試系統(tǒng)耗時(shí)更少、標(biāo)準(zhǔn)接口的使用增加、上市時(shí)間更快。除了可以進(jìn)行電路板測(cè)試之外，邊界掃描允許在PCB貼片之后，在電路板上對(duì)幾乎所有類(lèi)型的CPLD和閃存進(jìn)行編程，無(wú)論尺寸或封裝類(lèi)型如何。在系統(tǒng)編程可通過(guò)降低設(shè)備處理、簡(jiǎn)化庫(kù)存管理和在電路板生產(chǎn)線上集成編程步驟來(lái)節(jié)約成本并提高產(chǎn)量?！　∵吔鐠呙柙恚骸　EEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個(gè)四線串行接口（第五條線是可選的），該接口稱(chēng)作測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP），用于訪問(wèn)復(fù)雜的集成電路（IC），例如微處理器、DSP、ASIC和CPLD。除了TAP之外，混合IC也包含移位寄存器和狀態(tài)機(jī)，以執(zhí)行邊界掃描功能。在TDI（測(cè)試數(shù)據(jù)輸入）引線上輸入到芯片中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在指令寄存器中或一個(gè)數(shù)據(jù)寄存器中。串行數(shù)據(jù)從TDO（測(cè)試數(shù)據(jù)輸出）引線上離開(kāi)芯片。邊界掃描邏輯由TCK（測(cè)試時(shí)鐘）上的信號(hào)計(jì)時(shí)，而且TMS（測(cè)試模式選擇）信號(hào)驅(qū)動(dòng)TAP控制器的狀態(tài)。TRST（測(cè)試重置）是可選項(xiàng)。在PCB上可串行互連多個(gè)可兼容掃描功能的IC，形成一個(gè)或多個(gè)掃描鏈，每一個(gè)鏈都由其自己的TAP。每一個(gè)掃描鏈提供電氣訪問(wèn)，從串行TAP接口到作為鏈的一部分的每一個(gè)IC上的每一個(gè)引線。在正常的操作過(guò)程中，IC執(zhí)行其預(yù)定功能，就好像邊界掃描電路不存在。但是，當(dāng)為了進(jìn)行測(cè)試或在系統(tǒng)編程而激活設(shè)備的掃描邏輯時(shí)，數(shù)據(jù)可以傳送到IC中，并且使用串行接口從IC中讀取出來(lái)。這樣數(shù)據(jù)可以用來(lái)激活設(shè)備核心，將信號(hào)從設(shè)備引線發(fā)送到PCB上，讀出PCB的輸入引線并讀出設(shè)備輸出。
邊界掃描（boundary scan）測(cè)試發(fā)展于上個(gè)世紀(jì)90年代，隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn)，印制電路板制造工藝向小，微，薄發(fā)展，傳統(tǒng)的ict 測(cè)試已經(jīng)沒(méi)有辦法滿(mǎn)足這類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試要求。由于芯片的引腳多，元器件體積小，板的密度特別大，根本沒(méi)有辦法進(jìn)行下探針測(cè)試。一種新的測(cè)試技術(shù)產(chǎn)生了，聯(lián)合測(cè)試行為組織（joint test action group）簡(jiǎn)稱(chēng)jtag 定義這種新的測(cè)試方法即邊界掃描測(cè)試。
文章TAG：掃描掃描鏈二維碼鏈接掃描鏈

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