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3d目標(biāo)檢測(cè)，PSD在三維坐標(biāo)測(cè)量中是如何應(yīng)用的呢

來(lái)源：整理時(shí)間：2024-10-13 17:47:35 編輯：智能門戶手機(jī)版

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1，PSD在三維坐標(biāo)測(cè)量中是如何應(yīng)用的呢
2，高分辨雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)有哪些方法
3，unity3d判斷目標(biāo)點(diǎn)可否到達(dá)
4，3D測(cè)量系統(tǒng)的本質(zhì)是什么具體能用在哪些領(lǐng)域
5，HALCON機(jī)器視覺(jué)軟件的HALCON功能
6，全站儀三維坐標(biāo)測(cè)量的具體操作步驟

1，PSD在三維坐標(biāo)測(cè)量中是如何應(yīng)用的呢

三維坐標(biāo)測(cè)量是測(cè)量中的一個(gè)重要分支，被廣泛用于工業(yè)、軍事、科研等許多領(lǐng)域。位置敏感器(PSD)具有體積小、靈敏度高、線形范圍大、響應(yīng)速度快等優(yōu)點(diǎn)。三角測(cè)量法原理簡(jiǎn)單、計(jì)算方便，在無(wú)接觸測(cè)量距離及面形中有相當(dāng)重要的實(shí)用價(jià)值。本文以三角測(cè)量法為基礎(chǔ)，利用PSD作為探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)的三維坐標(biāo)測(cè)量。詳細(xì)內(nèi)容可以參考http://www.chuandong.com/cdbbs/2008-12/25/081225B92CA4636.html

PSD在三維坐標(biāo)測(cè)量中是如何應(yīng)用的呢

2，高分辨雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)有哪些方法

高分辨雷達(dá)系統(tǒng)具有車載式和手持便攜式兩種工作方式，分淺層高分辨率和深層低分辨率多種工作模式。系統(tǒng)分辨力可以達(dá)3－5cm，道路分層精度最高可達(dá)4mm。具備地下目標(biāo)的二維、三維合成孔徑成像、地下目標(biāo)異常檢測(cè)、地下目標(biāo)分類等功能。此項(xiàng)技術(shù)成果可應(yīng)用于公路和橋梁質(zhì)量檢測(cè)、隱患發(fā)現(xiàn)、建筑質(zhì)量評(píng)估、堤壩隱患發(fā)現(xiàn)等民用領(lǐng)域。目前系統(tǒng)處于工程化和應(yīng)用推廣階段雷達(dá)除上述功能外，還要求在惡劣電磁環(huán)境條件下對(duì)多目標(biāo)進(jìn)行高分辨測(cè)量、目標(biāo)特征測(cè)量、目標(biāo)成像及目標(biāo)識(shí)別。

高分辨雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)有哪些方法

3，unity3d判斷目標(biāo)點(diǎn)可否到達(dá)

這個(gè)需要看你的漫游的方法。若是使用navMeshAgent導(dǎo)航的話，可以使用hasPath()方法來(lái)判斷是否可以到達(dá)。如果使用第一人稱控制器的話，可以用目標(biāo)點(diǎn)的高度進(jìn)行基本的判斷。如果都不是，請(qǐng)告訴我你使用的方法，互相學(xué)習(xí)一下，謝謝。

小地圖嗎?1. create-reader texture-newtexture.rendertextue2. camera-targettexture-newtexture.rendertextue3. 新建:canvas-raw image , texture設(shè)置為newtexture.rendertextue4. 新建image,拉入遮罩圖片(一般為圓形),add component-mask5. 將第3部創(chuàng)建的地圖紋理拖入遮罩子節(jié)點(diǎn)

unity3d判斷目標(biāo)點(diǎn)可否到達(dá)

4，3D測(cè)量系統(tǒng)的本質(zhì)是什么具體能用在哪些領(lǐng)域

三角法測(cè)量的本質(zhì)是通過(guò)分析受到三維物體表面形貌調(diào)制的光場(chǎng)，從而獲得物體表面的三維信息。從激光器發(fā)出的線狀激光照射到待測(cè)目標(biāo)表面，在目標(biāo)表面一定深度范圍內(nèi)，激光近似沿平面?zhèn)鞑?。激光輪廓上任意一點(diǎn)在相機(jī)中成像到某個(gè)像素上，在高速相機(jī)標(biāo)定后，每個(gè)像素點(diǎn)與空間直線一一對(duì)應(yīng)。激光傳播平面與像素點(diǎn)確定的空間直線相交定論輪廓點(diǎn)。利用這種原理，可以計(jì)算出一條激光輪廓中每一個(gè)激光點(diǎn)的三維坐標(biāo)。科天健研發(fā)的3D測(cè)量系統(tǒng)能夠廣泛用于機(jī)器視覺(jué)、自動(dòng)加工、工業(yè)線檢測(cè)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、實(shí)物仿形（逆向工程）、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。藥品網(wǎng)

本質(zhì)就是通過(guò)三維掃描獲取相關(guān)測(cè)量數(shù)據(jù)，根據(jù)精度的不同可以用于工業(yè)建模、人體建模等，延伸到具體領(lǐng)域比如儀器加工、3D打印、虛擬試衣、服裝定制等，現(xiàn)在應(yīng)用最為廣泛的應(yīng)該是虛擬試衣，因?yàn)閷?duì)精度的要求沒(méi)有工業(yè)級(jí)別那么高。

5，HALCON機(jī)器視覺(jué)軟件的HALCON功能

隨著MVTec公司與學(xué)術(shù)界的不斷合作，在最新推出的HALCON 11中具有以下新功能：1.技術(shù)革新HALCON 11可以實(shí)現(xiàn)真正意義上的目標(biāo)識(shí)別?；跇颖镜淖R(shí)別方法可以區(qū)分出數(shù)量巨大的目標(biāo)對(duì)象。使用這種技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)僅依靠顏色或紋理等特征即可識(shí)別經(jīng)過(guò)訓(xùn)練的目標(biāo)，從而無(wú)需再采用一維碼或二維碼等用于目標(biāo)識(shí)別的特殊印記。2.強(qiáng)大的三維視覺(jué)處理HALCON 11提供的一個(gè)極為突出的新技術(shù)是三維表面比較，即將一個(gè)三維物體的表面形狀測(cè)量結(jié)果與預(yù)期形狀進(jìn)行比較。HALCON提供的所有三維技術(shù)，如多目立體視覺(jué)或sheet of light，都可用于表面重構(gòu)；同時(shí)也支持直接通過(guò)現(xiàn)成的三維硬件掃描儀進(jìn)行三維重構(gòu)。此外，針對(duì)表面檢測(cè)中的特殊應(yīng)用對(duì)光度立體視覺(jué)方法進(jìn)行了改善。不僅如此，HALCON現(xiàn)在還支持許多三維目標(biāo)處理的方法，如點(diǎn)云的計(jì)算和三角測(cè)量、形狀和體積等特征計(jì)算、通過(guò)切面進(jìn)行點(diǎn)云分割等。3.高速機(jī)器視覺(jué)體驗(yàn)自動(dòng)算子并行處理 (AOP) 技術(shù)是HALCON的一個(gè)獨(dú)特性能。HALCON 11中支持使用GPU處理進(jìn)行機(jī)器視覺(jué)算法的算子超過(guò)75個(gè)，比其他任何軟件開(kāi)發(fā)包提供的數(shù)量都多。除此之外，基于聚焦變化的深度圖像獲取 (depth from focus)、快速傅立葉變換 (FFT) 和HALCON的局部變形匹配都有顯著的加速。HALCON 11會(huì)帶給用戶更高速的機(jī)器視覺(jué)體驗(yàn)。4.其他新功能 1）Aztec碼識(shí)別; 2）Micro QR碼識(shí)別； 3）為分類自動(dòng)選擇特征； 4）使用HDevelop性能評(píng)測(cè)工具進(jìn)行高效的編碼分析； 5）支持Mac OS X 10.7操作系統(tǒng)； 6）重新修訂HALCON/C++接口； 7）三維數(shù)據(jù)快速可視化； 8）遠(yuǎn)心鏡頭立體視覺(jué)； 9）改善攝像機(jī)標(biāo)定技術(shù)； 10）HDevelop OCR助手，包含訓(xùn)練文件瀏覽器； 11）用于一維碼和二維碼識(shí)別的GS1術(shù)語(yǔ)學(xué)； 12）串行化HALCON/.NET及HALCON/C++； 13）易用的測(cè)量工具； 14）支持JPEG XR及其他。

6，全站儀三維坐標(biāo)測(cè)量的具體操作步驟

不同型號(hào)的全站儀，其具體操作方法會(huì)有較大的差異。下面簡(jiǎn)要介紹全站儀的基本操作與使用方法。 1.全站儀的基本操作與使用方法 1）水平角測(cè)量（1）按角度測(cè)量鍵，使全站儀處于角度測(cè)量模式，照準(zhǔn)第一個(gè)目標(biāo)A。（2）設(shè)置A方向的水平度盤讀數(shù)為0°00′00″。（3）照準(zhǔn)第二個(gè)目標(biāo)B，此時(shí)顯示的水平度盤讀數(shù)即為兩方向間的水平夾角。 2）距離測(cè)量（1）設(shè)置棱鏡常數(shù) 測(cè)距前須將棱鏡常數(shù)輸入儀器中，儀器會(huì)自動(dòng)對(duì)所測(cè)距離進(jìn)行改正。（2）設(shè)置大氣改正值或氣溫、氣壓值光在大氣中的傳播速度會(huì)隨大氣的溫度和氣壓而變化，15℃和760mmHg是儀器設(shè)置的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)值，此時(shí)的大氣改正為0ppm。實(shí)測(cè)時(shí)，可輸入溫度和氣壓值，全站儀會(huì)自動(dòng)計(jì)算大氣改正值（也可直接輸入大氣改正值），并對(duì)測(cè)距結(jié)果進(jìn)行改正。（3）量?jī)x器高、棱鏡高并輸入全站儀。（4）距離測(cè)量照準(zhǔn)目標(biāo)棱鏡中心，按測(cè)距鍵，距離測(cè)量開(kāi)始，測(cè)距完成時(shí)顯示斜距、平距、高差。全站儀的測(cè)距模式有精測(cè)模式、跟蹤模式、粗測(cè)模式三種。精測(cè)模式是最常用的測(cè)距模式，測(cè)量時(shí)間約2.5S，最小顯示單位1mm；跟蹤模式，常用于跟蹤移動(dòng)目標(biāo)或放樣時(shí)連續(xù)測(cè)距，最小顯示一般為1cm，每次測(cè)距時(shí)間約0.3S；粗測(cè)模式，測(cè)量時(shí)間約0.7S，最小顯示單位1cm或1mm。在距離測(cè)量或坐標(biāo)測(cè)量時(shí)，可按測(cè)距模式（MODE）鍵選擇不同的測(cè)距模式。應(yīng)注意，有些型號(hào)的全站儀在距離測(cè)量時(shí)不能設(shè)定儀器高和棱鏡高，顯示的高差值是全站儀橫軸中心與棱鏡中心的高差。 3）坐標(biāo)測(cè)量（1）設(shè)定測(cè)站點(diǎn)度盤讀數(shù)為其方位角。當(dāng)設(shè)定后視點(diǎn)的坐標(biāo)時(shí)，全站儀會(huì)自動(dòng)計(jì)算后視方向的方位角，并設(shè)定后視方向的水平度盤讀數(shù)為其方位角。（3）設(shè)置棱鏡常數(shù)。（4）設(shè)置大氣改正值或氣溫、氣壓值。（5）量?jī)x器高、棱鏡高并輸入全站儀。（6）照準(zhǔn)目標(biāo)棱鏡，按坐標(biāo)測(cè)量鍵，全站儀開(kāi)始測(cè)距并計(jì)算顯示測(cè)點(diǎn)的三維坐標(biāo)。參考百度知道： http://wenwen.sogou.com/z/q738666020.htm

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