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納米顯微鏡，什么是納米顯微鏡

來源：整理時間：2024-12-26 18:10:36 編輯：智能門戶手機版

本文目錄一覽

1，什么是納米顯微鏡
2，納米材料分析檢測顯微鏡是哪種的
3，糾結(jié)了很久納米級顯微鏡為什么能看到東西
4，AFM的介紹

1，什么是納米顯微鏡

分辨率在納米級的顯微鏡，如掃描電鏡！

什么是納米顯微鏡

2，納米材料分析檢測顯微鏡是哪種的

納米材料分析檢測顯微鏡是以下幾種：如：LJ-TS01 體視顯微鏡，LJ-SZM 實體顯微鏡，三目顯微鏡LJ-ST03，LJ-CL01 拍照測量顯微鏡，LJ-CLP03金相顯微鏡，LJ-HD01 高清顯微鏡, LJ-HS01 HDMI顯微鏡，LJ-DSX01電視顯微鏡，LJ-SPX01視頻顯微鏡， LJ-DZF電子放大顯微鏡，LJ-DZX01 數(shù)碼顯微鏡等。如果要求倍數(shù)大一點，可以選擇高倍顯微鏡。

顯微鏡現(xiàn)在種類多

納米材料分析檢測顯微鏡是哪種的

3，糾結(jié)了很久納米級顯微鏡為什么能看到東西

物鏡頭的作用是轉(zhuǎn)換光路，他們的位置不是鏡頭的聚焦點，就不可能看到玻璃的分子，如果看得話你要把玻璃放在鏡頭的聚焦點上，你想想放大鏡看東西也要把物品放到焦點上啊。。你不可能把放大鏡本身放大吧

最新的光學(xué)顯微鏡是可以看到50nm的，液體也可以。有種熒光顯微鏡可以看到單個的蛋白。此外近場光學(xué)顯微鏡好象可以

幾百納米可以看到，這是由顯微鏡物鏡的分辨率決定的。 10納米的可以看到影像，但不是最清晰的圖像，通?？次⒎志€路的只能看到線是否斷開能看到，

糾結(jié)了很久納米級顯微鏡為什么能看到東西

4，AFM的介紹

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱；現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實驗等領(lǐng)域中，成為納米科學(xué)研究的基本工具。

原子力顯微鏡(atomic force microscope, afm)是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，stm（scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡）由ibm-zurich 的binnig and rohrer 發(fā)明。1982年，binnig首次觀察到原子分辨圖si(7x7)。1985年，binnig, gerber和quate開發(fā)成功了首臺afm（atomic force microscope, 原子力顯微鏡）。在表面科學(xué)、納米技術(shù)領(lǐng)域、生物電子等領(lǐng)域， spm（scanning probe microscopy）逐漸發(fā)展成為重要的、多功能材的材料表征工具。stm 要求樣品表面導(dǎo)電，而afm可以測試絕緣體的表面形貌和性能。因為stm的基本原理是通過測量探針與樣品表面的隧道電流大小來探測表面形貌，而afm是測量探針與樣品表面的相互作用力。afm由四個部分組成：機械運動部分、懸臂偏轉(zhuǎn)信號光學(xué)檢測系統(tǒng)、控制信號反饋系統(tǒng)，成像和信息處理軟件系統(tǒng)。探針與樣品之間的相互作用力使微懸臂向上或向下偏轉(zhuǎn)，利用激光將光照射在懸臂的末端，反射光的位置改變就用來測器此懸臂的偏移量，這種檢測方法最先由meyer 和amer提出。機械部分的運動（探針上、下以及橫向掃描運動）是有精密的壓電陶瓷控制。激光反射探測采用psd。反饋和成像系統(tǒng)控制探針和樣品表面間距以及最后處理實驗測試結(jié)果。原子力顯微鏡afm操作模式隨著afm技術(shù)的發(fā)展，各種新應(yīng)用不斷涌現(xiàn)。具體包括如下技術(shù):(1) 接觸模式 (contact mode) 最早的模式，探針和樣品直接接觸，探針容易磨損，因此要求探針較軟，即懸臂的彈性系數(shù)小，一般小于1n/m。(2) 輕敲模式（tapping mode）也叫dynamic force或者intermittant-contact。探針在外力驅(qū)動下共振，探針部分振動位置進入力曲線的排斥區(qū)，因此探針間隙性的接觸樣品表面。探針要求很高的懸臂彈性系數(shù)來避免與樣品表面的微層水膜咬死。tapping mode對樣品作用力小，對軟樣品特別有利于提高分辨率。同時探針的壽命也較contact mode的稍長。以上是最常用的afm模式，別的模式還有很多：如lateral force microscopy（橫向力顯微鏡，檢測樣品表面微區(qū)對探針橫向的摩擦力，可以獲得材料的力學(xué)性能），noncontact mode force（非接觸模式顯微鏡，與tapping mode基本相同，區(qū)別是非接觸模式探針工作在力曲線的吸引區(qū)），force modulation （力調(diào)制顯微鏡，探針對檢測樣品表面微區(qū)有很大的力，可以獲得材料微區(qū)的彈性系數(shù)等力學(xué)性能），cfm chemical force microscopyefm electric force microscopykfm kelvin force microscopymfm magnetic force microscopysthm scanning thermal microscopyscm scanning capacitance microscopescpm scanning chemical potential microscopesecm scanning electrochemical microscopesicm scanning ion conductance microscopeskpm scanning kelvin probe microscopesthm scanning thermal microscopestos scanning tunneling optical spectrometer各種模式和應(yīng)用要求性能各異的探針，而探針的性能指標(biāo)是決定顯微鏡分辨率的最關(guān)鍵的因素。二. afm探針分類及各探針優(yōu)缺點afm探針基本都是由mems技術(shù)加工 si 或者 si3n4來制備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長、10μm寬、數(shù)微米厚。利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發(fā)了各種不同應(yīng)用領(lǐng)域的顯微鏡，如afm（范德法力），靜電力顯微鏡efm（靜電力）磁力顯微鏡mfm（靜磁力）側(cè)向力顯微鏡lfm（探針側(cè)向偏轉(zhuǎn)力）等，因此有對應(yīng)不同種類顯微鏡的相應(yīng)探針。原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種：（1）、非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：最常用的產(chǎn)品，分辨率高，使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降。主要應(yīng)用與表面形貌觀察。（2）、導(dǎo)電探針：通過對普通探針鍍10-50納米厚的pt（以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬，如cr，ti，pt和ir等）得到。導(dǎo)電探針應(yīng)用于efm，kfm，scm等。導(dǎo)電探針分辨率比tapping和contact模式的探針差，使用時導(dǎo)電鍍層容易脫落，導(dǎo)電性難以長期保持。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖，全金屬絲針尖，這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點。（3）、磁性探針：應(yīng)用于mfm，通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍co、fe等鐵磁性層制備，分辨率比普通探針差，使用時導(dǎo)電鍍層容易脫落。（4）、大長徑比探針：大長徑比針尖是專為測量深的溝槽以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計生產(chǎn)的。特點：不太常用的產(chǎn)品，分辨率很高，使用壽命一般。技術(shù)參數(shù)：針尖高度> 9μm；長徑比5:1；針尖半徑< 10 nm。（5）、類金剛石碳afm探針/全金剛石探針：一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜，另外一種是全金剛石材料制備（價格很高）。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。還有生物探針（分子功能化），力調(diào)制探針，壓痕儀探針